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干涉仪

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  • 美国
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  • 自由光谱范围

    Free Spectral Range(FSR)（GHz）

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  • LMS200 干涉仪

    LMS200

    测量类型: Thickness, Length 应用: Dimension Measurement, Gage Block Measurement

    普惠测量系统公司（Pratt&Whitney Measurement Systems）的LMS200是一种激光干涉仪，通过将测量探头位置与632.8nm红色氦氖激光光源的波长进行比较来测量内部和外部尺寸。该专利激光路径与测量轴一致，消除了阿贝误差。它有一个花岗岩底座，其热膨胀系数比钢小十倍以上，使该干涉仪成为高度稳定的测量源。该干涉仪的精度为0.05+0.5Lμm，重复性为0.04μm.它的测量范围高达200 mm，直接读数范围为200 mm.LMS200干涉仪有一个碳化钨平板（1/10波）测量探头，带有?0.25金刚石尖端。探头是电动和远程控制的，以提高系统稳定性并消除操作员的影响。它可以测量最大尺寸为293 X 203 mm的样品，并具有14克的探针接触力。该干涉仪具有两步校准功能，这是一种先进的省时功能，允许使用两个实验室级别的可追踪量块进行校准，从开始到结束仅需30秒。它可以在直接读取或比较器模式下工作，并具有可编程自动循环功能，支持用户定义的恒定吞吐速率。该干涉仪根据命令存储所有测量结果的总和，并可显示统计数据，指示计算的平均值和一个标准偏差。LMS200需要110/120至220/240 V的交流电源，并消耗1-2 A的电流。它采用尺寸为56 X 41 X 79 cm的封装，非常适合测量球/球体、磁带/磁盘基板、光学元件、聚乙烯薄膜、量块/滑规、涂层厚度标准、塞规和销规、丝线、薄膜厚度、量块堆叠、网格厚度、纺织品和精密零件。

  • SA30-95 干涉仪

    SA30-95

    美国
    分类：干涉仪
    厂家：索雷博
    测量类型: Laser Line Shape 探测器类型: Photodiode 应用: Telecommunication, Spectral Analysis

    Thorlabs公司的SA30-95是一款干涉仪，自由光谱范围（FSR）为1.5 GHz，波长为824至1071 nm.有关SA30-95的更多详细信息，请联系我们。

  • INT-MSI-1300 干涉仪

    INT-MSI-1300

    美国
    分类：干涉仪
    厂家：索雷博
    探测器类型: PIN 光纤类型: SMF28 应用: OCT Imaging Systems

    Thorlabs Inc的INT-MSI-1300是波长为1250至1350 nm的干涉仪。有关INT-MSI-1300的更多详细信息，请联系我们。

  • SA200-18C 干涉仪

    SA200-18C

    美国
    分类：干涉仪
    厂家：索雷博
    测量类型: Wavelength 探测器类型: Photodiode 应用: Telecommunication, Spectral Analysis

    Thorlabs公司的SA200-18C是一款干涉仪，自由光谱范围（FSR）为1.5 GHz，波长为1800至2600 nm.有关SA200-18C的更多详细信息，请联系我们。

  • DAISI-MT干涉仪 干涉仪

    DAISI-MT干涉仪

    美国
    分类：干涉仪
    厂家：Connected Fibers
    干涉仪配置: Not Specified 光源: 632 nm or 633nm 输出极化: Not Specified 有效值重复性: Not Specified 有效值精度: Not Specified

    基于使DAISI获得成功的设计和理念，DAISI-MT包括白色和Redight光源，可在同一系统上测量多光纤套圈和单光纤连接器的端面几何形状。其革命性的设计使其非常适合在生产环境和现场应用中使用。除了自动化和控制命令外，实时和高质量的图像通过USB2.0高速链路以高达每秒100张图像的速度从硬件传输到软件。DAISI-MT是便携式的，可以连接到笔记本电脑或台式电脑。所有校准步骤都是自动化的，并嵌入到用户友好的软件界面中，以产生无误差和可靠的测量。白光干涉仪的机械和电子设计比红光（单色）干涉仪的设计更具挑战性。整个光学系统必须以纳米级的精度和完美的线性方式在许多微米范围内平移。DAISI-MT系统做到了这一点：基于一个30微米行程的闭环压电传感器，在不到10秒的时间内对表面进行快速精确的扫描。

  • M-WAVE 339 MWIR干涉仪 干涉仪

    M-WAVE 339 MWIR干涉仪

    美国
    分类：干涉仪
    干涉仪配置: Not Specified 光源: Not Specified 输出极化: Linear 有效值重复性: <0.001 waves 有效值精度: <0.01 waves

    M-Wave 339红外干涉仪是较先进的LUPI（激光不等路径干涉仪），工作在3.39微米。是检测中波红外成像器件/系统和光学材料均匀性的理想仪器。

  • 干涉仪VI-direct SL 10 干涉仪

    干涉仪VI-direct SL 10

    美国
    分类：干涉仪
    干涉仪配置: Fizeau Interferometer 光源: Not Specified 有效值重复性: Not Specified 有效值精度: Not Specified

    干涉仪是光学生产和质量控制中不可缺少的测量工具。它们用于各种各样的应用。例如，光学表面的平面度和球度检测、半径测量以及光学系统的波前检测。VI系列干涉仪有两种版本：干涉仪VI-Vario和干涉仪VI-Direct。两个版本的不同之处在于仪器中使用的相机类型。干涉仪VI-Vario包含一个模拟摄像机，可连接电视监视器。干涉仪Vi-Direct配有基于USB的数码相机。与模拟摄像机相比，该摄像机具有更高的横向分辨率。它允许干涉图像的三倍数字缩放，因此可以测试较小的零件。另一个优点是降低了对外部干扰（例如振动）的敏感性。

  • 微塔龙 干涉仪

    微塔龙

    美国
    分类：干涉仪
    厂家：TecOptics, Inc.
    干涉仪配置: Not Specified 光源: 632 nm or 633nm, 355nm, 532nm, 780nm, 1053nm, 1064nm, 1550nm, 10.6um, 543nm, 594nm 输出极化: Not Specified 有效值重复性: Not Specified 有效值精度: <0.01 waves

    光纤通信要求光学元件极度小型化。针对DWDM（密集波分复用）、线路窄化和信道监控等应用，TecOptics推出了新的微标准具系列。新开发的制造技术使TecOptics能够以低廉的价格提供大量这些微型空气间隔和固体标准具?？掌涓舭姹揪哂行≈?.5mm X 2mm X 3mm的尺寸，而固体微标准具横截面可以小至2mm。精细度值可以大于100。

  • DAISI V2干涉仪 干涉仪

    DAISI V2干涉仪

    美国
    分类：干涉仪
    厂家：Connected Fibers
    干涉仪配置: Not Specified 光源: 632 nm or 633nm 有效值重复性: Not Specified 有效值精度: Not Specified

    用于测量单光纤和MT-RJ连接器端面几何形状的较终生产干涉仪，配备了革命性的无外部移动部件机械设计。DAISI V2的设计考虑了多年的行业反馈，以满足生产环境中较苛刻的使用要求。除自动化和控制命令外，非压缩、实时和高质量图像通过USB2.0高速链路从硬件传输到软件。DAISI是便携式的，可以连接到笔记本电脑或台式电脑。所有校准步骤都是自动化的，并嵌入到用户友好的软件界面中，以产生无误差和可靠的测量结果。

  • FDVI Mark IV 3000 干涉仪

    FDVI Mark IV 3000

    美国
    分类：干涉仪
    干涉仪配置: Not Specified 光源: White Light 输出极化: Not Specified 有效值重复性: <0.01 waves 有效值精度: <0.01 waves

    新的M，F&A Mark IV全光纤多普勒速度干涉仪系统在测量和记录瞬时速度与时间历程方面提供了增强的能力。两个版本的Mark IV系统现已投入使用。较初的Mark IV系统已在世界各地使用，并在目标表面具有合理反射的情况下提供了出色的结果。在较新版本的Mark IV中，我们升级到了新的超窄线宽激光器，以提高速度分辨率。这些系统还采用了较新的发展，如新的镍金属氢化物电源和充电系统。新的前面板布置包括一个“平衡”旋钮，可轻松均衡“正弦”和“余弦”信号幅度，以及一个数字电池电压监测器。新系统内置在1U机架安装机箱中，如果需要，可以在以后通过添加EDFA轻松升级到Mark IV-3000。Mark IV-3000采用基于相同超窄线宽种子激光器的全新系统架构，但该版本集成了+30 dB的EDFA将来自边缘目标表面的相对较弱的回光提升到在检测端给出高信噪比的水平。反射回光的这种提升相当于在目标上施加3000mW的激光功率。

  • 硬盘I-TEST平面度测试装置 干涉仪

    硬盘I-TEST平面度测试装置

    美国
    分类：干涉仪
    干涉仪配置: Not Specified 光源: Not Specified 输出极化: Not Specified 有效值重复性: Not Specified 有效值精度: Not Specified

    I-Test硬盘平面度测试装置

  • 马赫-泽恩德干涉仪 干涉仪

    马赫-泽恩德干涉仪

    美国
    分类：干涉仪
    干涉仪配置: Not Specified 光源: Not Specified 输出极化: Not Specified 有效值重复性: Not Specified 有效值精度: <0.01 waves

    马赫-曾德干涉仪

  • 微型相移激光干涉仪 干涉仪

    微型相移激光干涉仪

    美国
    分类：干涉仪
    干涉仪配置: Not Specified 光源: 780nm 输出极化: Not Specified 有效值重复性: Not Specified 有效值精度: Not Specified

    微型移相激光干涉仪

  • NSLI-632-1 N-Slit激光干涉仪 干涉仪

    NSLI-632-1 N-Slit激光干涉仪

    美国
    分类：干涉仪
    干涉仪配置: Not Specified 光源: 632 nm or 633nm 输出极化: Not Specified 有效值重复性: Not Specified 有效值精度: Not Specified

    通常，基于多棱镜扩束和数字检测，狭缝干涉仪允许透射光学表面的快速干涉测量表征。与传统的逐点非相干显微密度计和逐点非相干显微镜相比，这是一个显著的进步。