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纤视科技FV-3100
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DI-1000光纤检测探针
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CI-1100光纤检测探针
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FGC纤维几何系统
可接受的纤维直径: 50 - 1000 umFGC光纤几何系统使用视频灰度技术(RTM方法)来提供快速、自动化的纤芯/包层几何测量。测量高达1000μm的标称包层直径??梢圆饬刻厥庀宋?,如弯曲不敏感,八角形等。暗场照明提供光纤端面的清晰视图。符合标准。
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FGC-GA几何系统
可接受的纤维直径: 10 - 1000 umFGC-GA是一种一体化解决方案,用于对较广泛的光纤、V形槽阵列和带状连接器的几何形状进行精密测量。通过一个单元,用户可以完全表征宽度达15mm的多光纤阵列的V槽块几何形状、芯到芯间距和芯X&Y偏移。凭借巨大的1200μm视场以及自动横向扫描台,FGC-GA可以为您提供所需的所有结果。
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VFI-1200光纤端面检查系统
可接受的纤维直径: 125 - 1200 umVFI-1200干涉仪是一种光纤端面检测系统,专为检查劈开、抛光或透镜光纤的表面质量和平整度而设计。接受125至1200um光纤直径。VFI-2000现已上市,适用于高达2000μm的更大直径光纤。
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FGC-P纤维涂层几何系统
可接受的纤维直径: 100 - 260 umFGC-P光纤涂层几何系统是测量光纤涂层几何特性的快速、可靠的解决方案。它提供了光纤涂层几何参数的直接测量,包括:涂层直径、涂层不圆度和涂层-包层同心度。FGC-P可处理涂层直径为100至260μm的光纤,能够测量外部和内部涂层。