用光学方法测量平面度

2023-02-15

来源公司：Knight Optical (UK) Ltd

为了在使用光学平板评定时获得精确的测量和对比条纹图案，加工部件的平面度，视场必须用单色光照明，即即光线实际上具有相同波长的光。

文件预览 立即下载

更多下载

• TC LAB 系列产品手册

  来源公司：Wavelength Opto-Electronic

• WTCP5V5A PWM 温度控制器产品手册

  来源公司：Wavelength Opto-Electronic

• QCL 系列竞争对手噪声比较

  来源公司：Wavelength Opto-Electronic

• 激光驱动器噪声对 QCL 线宽的影响

  来源公司：Wavelength Opto-Electronic

• QCL OEM(+) 系列低噪声 QCL 驱动器手册

  来源公司：Wavelength Opto-Electronic

• QCL OEM 系列低噪声 QCL 驱动器手册

  来源公司：Wavelength Opto-Electronic

• PLD10000 / PLD12500 激光二极管驱动器手册

  来源公司：Wavelength Opto-Electronic

• PLD 系列激光二极管驱动器手册

  来源公司：Wavelength Opto-Electronic