研究目的
研究胶体3C-SiC量子点荧光表面缺陷的光漂白特性及其在太阳紫外辐射传感中的应用。
研究成果
研究表明,3C-SiC量子点中约392纳米的紫色荧光源自羧酸基团相关的表面缺陷,在紫外照射下表现出可逆与不可逆的光漂白现象。该光漂白特性对氢离子或金属离子浓度高度敏感,可用于太阳能紫外线辐照传感及离子浓度检测。
研究不足
该研究仅限于特定条件下3C-SiC量子点的光漂白特性,未深入探讨其他环境因素的影响及传感应用的可扩展性。
1:实验设计与方法选择:
本研究采用实验与理论相结合的方法,包括含时密度泛函理论(TDDFT)计算,以探究3C-SiC量子点的光漂白特性。
2:样本选择与数据来源:
采用改进的化学蚀刻法制备胶体3C-SiC量子点。
3:实验设备与材料清单:
透射电镜(Tecnai G2 T20 TEM)、荧光分光光度计RF-6000、紫外辐照计(LS125)、紫外/可见分光光度计UV-2600、Nicolet iS10光谱仪、PHI 5000 VersaProbe光谱仪。
4:紫外辐照计(LS125)、紫外/可见分光光度计UV-Nicolet iS10光谱仪、PHI 5000 VersaProbe光谱仪。 实验步骤与操作流程:
4. 实验步骤与操作流程:将量子点暴露于紫外辐照下,通过光致发光(PL)和光激发(PLE)光谱测量、傅里叶变换红外光谱(FTIR)、X射线光电子能谱(XPS)及时间分辨荧光光谱研究其光漂白特性。
5:数据分析方法:
采用高斯函数拟合PL光谱,并通过TDDFT计算解析发光机制。
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Tecnai G2 T20 TEM
G2 T20
FEI
Transmission electron microscopy imaging of 3C-SiC QDs.
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UV/Vis spectrometer
UV-2600
Shimadzu
Measurement of UV–vis absorption spectra.
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Spectrofluorometer
RF-6000
Measurement of PL and PLE spectra.
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UV irradiation meter
LS125
Shenzhen Linshang Technology Co., Ltd.
Monitoring UV irradiation intensity.
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FTIR spectrometer
Nicolet iS10
Measurement of Fourier transform infrared spectroscopy spectra.
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XPS spectrometer
PHI 5000 VersaProbe
X-ray photoelectron spectroscopy analysis.
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