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双光束干涉粒子成像技术用于不规则煤微粒尺寸与形貌表征:基于数字同轴全息术的验证

DOI:10.1016/j.jqsrt.2019.106728 期刊:Journal of Quantitative Spectroscopy and Radiative Transfer 出版年份:2019 更新时间:2025-09-11 14:15:04
摘要: 不规则颗粒的尺寸与形状表征对于全面理解诸多自然及工业过程具有重要意义。双光束干涉粒子成像技术(DIPI)源自干涉粒子成像的双光束背向照明构型,可通过颗粒的干涉图获取其尺寸与二维形貌。结合数字同轴全息术(DIH)与DIPI技术的实验装置,利用彩色相机对同一颗粒的相同投影进行表征,从而实现两种技术间的精度评估与验证。对比结果表明:DIPI干涉图的二维傅里叶变换与DIH重建聚焦图像的二维自相关具有良好的一致性。DIH为颗粒尺寸测量提供了参考基准,我们观测到DIPI测量结果的最大差异低至9%。该双光束干涉粒子成像技术的背向布局设计便于仪器进一步开发,并适用于固体燃料颗粒、冰晶等多种实际场景。
作者: Xuecheng Wu,Lin Shi,Zhiming Lin,Yingchun Wu,Marc Brunel,Justin Jacquot,Gérard Gréhan
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研究概述 实验方案 设备清单

研究双光束干涉粒子成像(DIPI)技术在非规则煤颗粒表征中的应用,并通过数字同轴全息术(DIH)验证其准确性。

DIPI技术在非规则煤颗粒的形状和尺寸测量方面与DIH显示出良好的一致性,最大差异低至9%。DIPI的背向布置有利于其进一步的仪器开发及在真实工业场景中的应用。

该研究聚焦于微米级不透明煤颗粒,数字全息干涉成像(DIPI)技术的精度评估约为9%,这可能无法满足所有实际应用需求。最远点的确切位置无法直接确定,且仅能获取部分形貌信息。

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