研究目的
利用太赫兹波光谱法测量五种常用绝缘材料的介电特性,并将结果与宽带介电谱法所得数据进行对比。
研究成果
研究表明,太赫兹波技术是一种极具前景的绝缘材料介电特性无损测量方法,在老化测试和缺陷检测方面具有潜在应用价值。太赫兹频段的介电常数低于低频段,而介电损耗角正切值通常更高。
研究不足
第二种方法的有效频率范围比第一种方法更窄,且在不减小样品厚度的情况下可能不适用于介电常数虚部较高的材料。
研究目的
利用太赫兹波光谱法测量五种常用绝缘材料的介电特性,并将结果与宽带介电谱法所得数据进行对比。
研究成果
研究表明,太赫兹波技术是一种极具前景的绝缘材料介电特性无损测量方法,在老化测试和缺陷检测方面具有潜在应用价值。太赫兹频段的介电常数低于低频段,而介电损耗角正切值通常更高。
研究不足
第二种方法的有效频率范围比第一种方法更窄,且在不减小样品厚度的情况下可能不适用于介电常数虚部较高的材料。
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