研究目的
利用阿秒软X射线吸收光谱研究石墨的电子和晶格结构，以实时追踪电子与晶格动力学过程。
研究成果
该研究成功展示了阿秒X射线吸收精细结构光谱技术在识别石墨电子和晶格参数方面的新能力，与理论计算和同步辐射测量结果高度吻合。这为研究耦合电子与结构动力学的实时演化提供了新工具。
研究不足
该研究受到阿秒软X射线脉冲的光谱灵敏度和时间分辨率的限制，同时也受样品厚度和质量的影响。
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[2019年欧洲激光与电光学会议暨欧洲量子电子学会议（CLEO/Europe-EQEC） - 德国慕尼黑（2019.6.23-2019.6.27）] 2019年欧洲激光与电光学会议暨欧洲量子电子学会议（CLEO/Europe-EQEC） - 石墨中的阿秒软X射线吸收光谱学
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[2019年欧洲激光与电光学会议暨欧洲量子电子学会议（CLEO/Europe-EQEC） - 德国慕尼黑（2019.6.23-2019.6.27）] 2019年欧洲激光与电光学会议暨欧洲量子电子学会议（CLEO/Europe-EQEC） - 石墨中的阿秒软X射线吸收光谱学
DOI：10.1109/CLEOE-EQEC.2019.8871770
出版年份：2019
更新时间：2025-09-11 14:15:04
摘要：
X射线吸收精细结构（XAFS）光谱是一种成熟的技术，能够以原子分辨率提取材料的电子和晶格结构信息。通过分析近边区XAFS谱（XANES）可获得电子构型信息，而扩展XAFS谱（EXAFS）则包含吸收边上方数百电子伏特的能区，用于提取结构信息。将XAFS技术的光谱能力与高时间分辨率相结合，就能实时追踪电子和晶格动力学过程。本研究利用覆盖整个水窗波段（280-540电子伏特）的孤立阿秒软X射线脉冲，通过XAFS光谱同时获取电子和晶格参数。我们通过阿秒XAFS（attoXAFS）技术同时识别出高定向热解石墨（HOPG）中（cid:1）*和（cid:1）*轨道对态密度的贡献，以及石墨六方晶格的四个特征键距，展示了这一新技术的独特性能。
作者：
Nicola Di Palo，Themistoklis P. H. Sidiropoulos，Daniel E. Rivas，Stefano Severino，Maurizio Reduzzi，Bárbara Buades，Thomas Danz，Eric Pellegrin，Claus Ropers，Jens Biegert
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