研究目的
研究采用倾斜亚波长结构实现偏振无关的零双折射绝缘体上硅纳米线设计与性能。
研究成果
该研究成功展示了一种利用倾斜亚波长光栅设计零双折射绝缘体上硅纳米线的新方法。所提出的波导在宽频带上表现出可忽略的双折射,并对制造偏差具有更强的鲁棒性。该方法为偏振无关的集成光子元件提供了通用解决方案,在复杂光子器件和电路中具有潜在应用价值。
研究不足
该研究基于模拟和理论模型,可能未完全考虑所有制造缺陷及实际运行条件。此外,该设计性能仅在特定波长范围(1500-1600纳米)内进行了评估,其对其他波长的适用性可能需要进一步研究。
1:实验设计与方法选择:
本研究采用倾斜亚波长光栅(SWG)结构来控制绝缘体上硅(SOI)波导中的各向异性。设计原理基于SWG的各向异性行为,通过倾斜光栅段来实现零双折射。
2:样本选择与数据来源:
研究聚焦于具有特定横截面尺寸(300 nm x 550 nm)的SOI纳米线,并利用仿真预测和验证零双折射点。
3:实验设备与材料清单:
研究采用三维时域有限差分(FDTD)仿真及Photon Design公司的有限元法(FEM)求解器进行模态分析。
4:实验流程与操作步骤:
工作流程包括模拟不同倾斜角度下倾斜SWG波导的能带结构,以确定零双折射点及其对几何参数的依赖性。
5:数据分析方法:
分析包括计算宽频范围内布洛赫-弗洛凯模式的有效折射率,以评估双折射及其光谱响应。
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