研究目的
展示利用二次谐波（SHG）和三次谐波（THG）对PbI2纳米片进行非线性显微镜成像，以确定其晶体取向和厚度。
研究成果
利用二次谐波（SHG）和三次谐波（THG）对碘化铅（PbI2）纳米片进行非线性显微镜观测，为非侵入式光学表征其晶体取向和厚度提供了新技术，为光电器件应用开辟了新途径。
研究不足
该研究仅限于厚度不超过100纳米的碘化铅纳米片，未涉及其他卤化物半导体或更厚的样品。
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[IEEE 2019欧洲激光与电光会议暨欧洲量子电子学会议(CLEO/Europe-EQEC) - 德国慕尼黑(2019.6.23-2019.6.27)] 2019欧洲激光与电光会议暨欧洲量子电子学会议(CLEO/Europe-EQEC) - 碘化铅纳米片的非线性显微镜技术
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DOI：10.1109/cleoe-eqec.2019.8872937
出版年份：2019
更新时间：2025-09-11 14:15:04
摘要：
碘化铅（PbI2）是一种具有独特光学和电学特性的层状材料，其体相呈现直接带隙结构，晶体由紧密堆积的铅原子夹在两层碘原子之间构成层状结构。与广泛研究的过渡金属二硫化物（TMDCs）相比，二维PbI2作为新型卤化物半导体具有相对较大的可见光带隙（Eg ～ 2.4 eV），这赋予其独特的光学特性。尽管经过数十年研究并用作钙钛矿材料前驱体，近期开发的PbI2纳米片在高性能光电器件（如柔性光电探测器和纳米激光器）领域展现出巨大潜力。这类二维纳米片在低维非线性光学器件方面也极具应用前景，但其非线性特性尚未被探索，而PbI2纳米片的新应用需要对其晶体结构、厚度及非线性特性进行精确表征。本研究通过溶液生长纳米片的二次谐波（SHG）和三次谐波（THG）偏振与厚度依赖特性，实现了PbI2纳米片的非线性显微成像。该测量技术能以无损光学方法精确测定其厚度和晶体取向。
作者：
Jingshi Yan，Qingdong Ou，Qiaoliang Bao，Dragomir N. Neshev
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