研究目的
利用电子光学相移技术研究钨纳米尖端沿线的电荷分布。
研究成果
该研究展示了一种测量纳米尺度电荷分布的新方法。结果表明，电荷分布并不均匀，且受针尖几何形状和施加电压的影响。这项技术在纳米电子学和光电子学领域具有潜在应用价值。
研究不足
该技术受限于电子束的分辨率和相移检测器的灵敏度。结果也可能受到温度和湿度等环境因素的影响。
1：实验设计与方法选择：
本实验采用电子光学相移技术测量钨纳米针尖的电荷分布，并建立了理论模型来解释观测到的相移现象。
2：样品选择与数据来源：
以钨纳米针尖为样品，通过施加电压并记录电子束产生的相移获取数据。
3：实验设备与材料清单：
使用钨纳米针尖、电子束源、相移探测器和电压源。
4：实验步骤与操作流程：
将针尖置于电子束路径中，施加电压并记录电子束的相移。
5：数据分析方法：
利用理论模型分析相移数据以确定电荷分布。
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tungsten nanotip
Used as the sample for measuring charge distribution.
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electron beam source
Provides the electron beam for the phase shift measurement.
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phase shift detector
Detects the phase shift of the electron beam.
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voltage source
Applies voltage to the tungsten nanotip.
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