研究目的
利用SPring-8新安装的光电子发射显微镜(PEEM)系统，实现对先进材料局部瞬态电子结构的时间分辨纳米光谱分析。
研究成果
位于SPring-8的BL17SU束线站新安装的多功能PEEM设备适用于特殊实验，包括在外加磁场条件下的时间分辨测量。该设备可实现XAS、XMCD和XMLD-PEEM测量，以及脉冲激光激发下的泵浦-探测测量。
研究不足
使用软X射线时空间分辨率适中，且该系统在某些测量中可能需要进行漂移校正处理。
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SPring-8新安装的用于时间分辨纳米光谱学的光发射电子显微镜现状
DOI：10.7567/1347-4065/ab4b12
期刊：Japanese Journal of Applied Physics
出版年份：2019
更新时间：2025-09-11 14:15:04
摘要：
SPring-8软X射线波荡器光束线站（BL17SU）新安装了一套光电子发射显微镜（PEEM）系统，用于实现先进材料局部瞬态电子结构的时间分辨纳米光谱分析。该PEEM是由静电透镜系统组成的多功能设备，专为时间分辨测量等特定实验设计。目前可便捷开展与飞秒脉冲激光系统和X射线斩波器联用的泵浦-探测测量。
作者：
Takuo Ohkochi，Hitoshi Osawa，Akinobu Yamaguchi，Hidenori Fujiwara，Masaki Oura
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