研究目的
研究氧化石墨烯分散向列相液晶复合材料的电光、介电及光学特性。
研究成果
将氧化石墨烯（GO）分散到向列相液晶5CB中会改变其电光、介电和光学特性，在下一代基于液晶的显示器中具有潜在应用。该研究强调了GO浓度对这些特性进行优化的重要性。
研究不足
研究发现，随着氧化石墨烯（GO）浓度的增加，对比度比下降并产生诱导双折射现象，且在0.3 wt.% GO–5CB复合材料中存在宽幅双相区，表明较高GO浓度可能导致液晶分子排列出现潜在扰动。
1：实验设计与方法选择：
本研究将不同浓度的氧化石墨烯（GO）分散于向列相液晶5CB中，探究该复合材料的电光、介电及光学响应特性。采用光学偏振显微镜进行织构与相变研究。
2：样品选择与数据来源：
向列相液晶5CB和氧化石墨烯薄片购自印度Sigma-Aldrich公司。复合材料制备流程为：先将GO分散于蒸馏水，再分散至5CB中，随后进行超声处理及真空烘箱干燥。
3：实验设备与材料清单：
光学偏振显微镜（LV100POL，尼康Eclipse，美国）、氦氖激光器（λ=632 nm）、函数发生器（泰克AFG3021B）、光电探测器（PD-02，Instec，美国）、数字万用表（安捷伦34465A型）、阻抗分析仪（Wayne Kerr 6500B型）、紫外-可见分光光度计（Carry 100，安捷伦科技）。
4：实验流程与操作步骤：
将复合材料注入平面取向液晶盒，在正交偏光下观察其织构与相变。通过施加不同电场进行透射测量，介电测量频率范围为20 Hz至10 MHz。
5：数据分析方法：
采用相位差法计算光学双折射率，通过阻抗分析仪数据测定介电常数与损耗。
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获取完整内容-
Function generator
AFG3021B
Tektronix
Generating square wave pulses for electro-optical measurements.
-
Digital multimeter
34465A
Agilent
Measuring output light intensity.
-
UV–visible spectrophotometer
Carry 100
Agilent technologies
Measuring absorbance characteristics of LC samples.
-
Optical polarising microscope
LV100POL
Nikon Eclipse
Observing micro-textures of liquid crystal samples under crossed polarisers.
-
He–Ne laser
Providing light source for transmission measurements.
-
Photodetector
PD-02
Instec
Measuring the intensity of output light through LC samples.
-
Impedance analyser
6500B
Wayne Kerr
Measuring dielectric properties of LC samples.
-
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