研究目的
研究PEIE中间层厚度对反向结构红光敏感有机非富勒烯光电探测器探测率和时间响应的影响。
研究成果
在反向结构光电探测器中应用PEIE中间层可显著降低暗电流，从而提高探测率。但较厚的PEIE层会增加响应时间，这表明需要根据应用需求进行优化。
研究不足
该研究揭示了采用PEIE中间层的光电探测器在探测灵敏度与时间响应之间的权衡关系。较厚的PEIE层虽能降低暗电流，但会增加响应时间，从而限制器件的工作速度。
1：实验设计与方法选择：
本研究聚焦于PEIE中间层厚度对光电探测器性能的影响。研究方法包括构建不同PEIE层厚度的光电探测器，并测量其电学与光学特性。
2：样本选择与数据来源：
活性层由HFQx-T共聚物与ITIC受体混合而成。不同厚度的PEIE层通过旋涂法沉积在ITO衬底上。
3：实验设备与材料清单：
设备包括旋涂机、原子力显微镜（Nanosurf Flex-Axiom）、吸收光谱仪（Varian公司Cary 5000型）以及用于电学测量的Keithley 2410源测量单元。
4：实验流程与操作步骤：
先在ITO衬底上旋涂PEIE层，再沉积活性层，最后蒸镀金电极完成器件制备。所有电学与光学测试均在受控条件下进行。
5：数据分析方法：
通过电流-电压测量计算响应度与探测率，分析瞬态光电流响应以确定上升/下降时间。
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获取完整内容-
Silicon Photodiode
S1226-18BQ
Hamamatsu
Calibration of the light output from the LED lamp
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Atomic Force Microscope
Nanosurf Flex-Axiom
Nanosurf
Measuring thickness and surface topography of PEIE films
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SMU
Keithley 2410
Keithley
Performing steady-state measurements of the photodetectors
-
Optical Power Meter
PM100D
Thorlabs
Measuring illumination intensity
-
Photodiode Power Sensor
S120C
Thorlabs
Standard photodiode power sensor for measuring illumination intensity
-
Signal Generator
TEK AFG1062
Tektronix
Driving the LED lamp for transient response measurements
-
Absorption Spectrometer
Carry 5000
Varian Inc.
Measuring absorption spectra of the HFQx-T:ITIC layers
-
Digital Oscilloscope
PicoScope 5243A
Pico Technology
Measuring time-dependent output current of the photodetector
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