研究目的
研究AlSi10Mg激光熔覆过程中飞溅颗粒的形成及其对粉末质量的影响。
研究成果
铝硅合金AlSi10Mg激光熔化成形过程中产生的飞溅颗粒,在几何和化学特性上与原始粉末存在显著差异,从而影响粉末质量。虽然通过筛分可分离大部分飞溅颗粒,但仍会有部分残留在循环粉末中,进而影响其质量。
研究不足
该研究聚焦于AlSi10Mg材料,可能无法直接适用于其他材料。飞溅物附着对机械零件性能的影响尚需进一步量化。
1:实验设计与方法选择
本研究对AlSi10Mg激光熔化成形过程中飞溅颗粒的几何与化学特性进行表征,采用两种分离方法收集加工过程中的飞溅颗粒。
2:样本选择与数据来源
使用粒径分布为20-63微米的AlSi10Mg粉末,在激光熔化成形过程中通过两种分离方法收集飞溅颗粒。
3:实验设备与材料清单
采用德国SLM Solutions集团SLM125HL设备(激光光斑直径70微米)进行加工,表征手段包括:扫描电镜分析颗粒尺寸与形貌、惰性气体熔融法测定氧含量、X射线光电子能谱分析氧化层厚度、电感耦合等离子体发射光谱仪测定合金成分。
4:实验流程与操作规范
加工参数设置为:激光功率300W、扫描速度1150mm/s、层间距0.17mm。通过扫描电镜、X射线光电子能谱和电感耦合等离子体发射光谱仪对收集的飞溅颗粒进行表征。
5:数据分析方法
颗粒尺寸分布按DIN ISO 9276-1标准描述,筛分分析采用75微米筛网依据DIN 66165标准执行,化学成分分析使用电感耦合等离子体发射光谱仪。
独家科研数据包,助您复现前沿成果,加速创新突破
获取完整内容-
TM3030plus
TM3030plus
Hitachi
Scanning Electron Microscope (SEM) for particle size distribution and morphology analysis.
-
SLM125HL
SLM125HL
SLM Solutions Group
Used for Laser Beam Melting (LBM) processing.
-
Galileo G8
Galileo G8
Bruker AXS
Inert Gas Fusion for oxygen content measurement.
-
VersaProbe II
VersaProbe II
Physical Electronics
X-ray photoelectron spectroscopy (XPS) and sputtering for oxide layer thickness measurement.
-
CIROS
CIROS
Spectro
Inductively coupled plasma optical emission spectrometry (ICP-OES) for alloy composition analysis.
-
登录查看剩余3件设备及参数对照表
查看全部