研究目的
研究具有超晶格结构的InGaZnO纳米线的光电导特性,以开发高性能紫外光探测器并实现全透明紫外光探测器。
研究成果
通过常压化学气相沉积法制备了具有可控化学计量比和完美超晶格结构的InGaZnO纳米线。镓浓度显著影响器件性能,当镓浓度达到最佳配比(In1.8Ga1.8Zn2.4O7)时,器件展现出优异的响应度和外量子效率。在玻璃基底上构建的大规模纳米线平行阵列实现了高性能透明紫外光电探测器,证明了InGaZnO超晶格纳米线阵列在下一代全透明光电子器件领域的巨大应用潜力。
研究不足
该研究聚焦于具有超晶格结构的InGaZnO纳米线的光电导特性,未涉及其他材料体系或器件构型。透明光电探测器的性能受限于纳米线阵列与ITO电极之间非优化的接触界面。
1:实验设计与方法选择:
采用常压化学气相沉积(CVD)法合成了具有超晶格结构的InGaZnO纳米线。将这些纳米线配置为单个纳米线光电探测器以研究其光导特性。
2:样品选择与数据来源:
通过改变前驱体源中的镓含量合成了不同镓浓度的纳米线样品。采用扫描电子显微镜(SEM)、透射电子显微镜(TEM)、高分辨透射电子显微镜(HRTEM)和X射线光电子能谱(XPS)对样品进行表征。
3:实验设备与材料清单:
扫描电子显微镜(Quanta 450 FEG,FEI)、透射电子显微镜(CM 20)、高分辨透射电子显微镜(JEOL-2001F,JEOL)、XPS、标准探针台以及配备安捷伦4155C半导体分析仪和261 nm激光器的系统。
4:0)、高分辨透射电子显微镜(JEOL-2001F,JEOL)、XPS、标准探针台以及配备安捷伦4155C半导体分析仪和261 nm激光器的系统。 实验步骤与操作流程:
4. 实验步骤与操作流程:将纳米线分散在无水异丙醇溶液中并转移至基底上。进行光刻工艺后沉积镍薄膜以制备单个纳米线光电探测器。对于透明纳米线平行阵列光电探测器,采用预沉积ITO和Al2O3的玻璃基底。
5:数据分析方法:
使用配备安捷伦4155C半导体分析仪的标准探针台分析光电流和响应度。光电流与光强度的关系通过幂律描述。
独家科研数据包,助您复现前沿成果,加速创新突破
获取完整内容-
SEM
Quanta 450 FEG
FEI
Examination of NW morphology
暂无现货
预约到货通知
-
HRTEM
JEOL-2001F
JEOL
Evaluation of NW crystallinity
暂无现货
预约到货通知
-
Agilent 4155C semiconductor analyzer
4155C
Agilent Technologies
Photodetector measurement
暂无现货
预约到货通知
-
Power meter
PM400
Thorlabs
Measurement of light power
-
TEM
CM 20
Examination of NW morphology and crystallinity
暂无现货
预约到货通知
-
XPS
Evaluation of chemical state of NW constituents
暂无现货
预约到货通知
-
261 nm laser
Light source for photodetector measurement
暂无现货
预约到货通知
-
登录查看剩余5件设备及参数对照表
查看全部