研究目的
提出一种基于过剩噪声因子F与增益M之间线性关系来精确测定雪崩光电二极管(APD)量子效率及初级光电流的方法，并在非局域碰撞电离效应主导噪声与增益关系时，准确比较现代APD设计的性能。
研究成果
新方法无需依赖关于层厚度、吸收系数或光学透射率的假设，就能更准确地测定雪崩光电二极管（APD）的量子效率、增益和过剩噪声。只要倍增层具有显著的非局域碰撞电离效应，该方法适用于各种材料制成的APD。
研究不足
该方法特别适用于倍增层中存在显著非局域效应的雪崩光电二极管（APD）。尽管文献中报道的部分APD在倍增层中应具有可观的 非局域效应，但其表现却不符合线性关系。
1：实验设计与方法选择：
本研究利用过剩噪声因子F与增益M之间的线性关系来确定APD的量子效率和初级光电流。
2：样本选择与数据来源：
分析了两种具有不同外延结构的APD。
3：实验设备与材料清单：
包括稳定的白炽灯、光学带通滤波器、多模光纤、Keithley 2400源测量单元、低噪声跨阻放大器和PC-示波器卡。
4：实验步骤与操作流程：
在光照和黑暗条件下，通过改变偏置电压进行噪声和光电流测量。
5：数据分析方法：
通过分析噪声谱密度和光电流来计算量子效率、增益和过剩噪声。
独家科研数据包，助您复现前沿成果，加速创新突破
获取完整内容-
Keithley 2400 source measure unit
2400
Keithley
Provides the bias and measures the dc current in the photodiode.
-
optical bandpass filter
Filters all but the wavelengths of interest.
-
multimode optical fiber
Couples light to the active area of the photodiode under test.
-
low noise transimpedance amplifier
Amplifies the signal from the photodiode.
-
PC-oscilloscope card
Collects transient data for noise power spectrum analysis.
-
登录查看剩余3件设备及参数对照表
查看全部
