研究目的
采用脉冲激光沉积法制备Co0.8Zn0.2Fe2O4/(K0.47Na0.47Li0.6)NbO3双层薄膜并研究其结构、电学及磁学性能。
研究成果
研究表明,生长顺序显著影响双层薄膜的结构、电学和磁学性能。S-P膜展现出更优异的铁电性能,而P-S膜则表现出更高的饱和磁化强度。这些发现表明其在多铁性器件中具有潜在应用价值。
研究不足
该研究受限于沉积过程的复杂性以及薄膜特性对生长顺序和沉积参数的敏感性。氧空位和缺陷的存在可能会影响电学和磁学性能。
1:实验设计与方法选择:
本研究采用脉冲激光沉积法(PLD)在Pt/Si衬底上以不同生长顺序(P-S和S-P)制备双层薄膜。通过X射线衍射、拉曼散射、X射线光电子能谱、介电常数测量、铁电滞回线、漏电流测量和磁滞回线分析其结构、铁电及磁学性能。
2:样品选择与数据来源:
样品组成为(K,Na,Li)NbO3-CoZnFe2O4(P-S序)和CoZnFe2O4-(K,Na,Li)NbO3(S-P序)。
3:实验设备与材料清单:
248nm KrF准分子激光器(PLD)、X射线衍射仪(布鲁克D2 Phasor)、显微拉曼光谱仪(Jobin Yvon Horiba LABRAM-HR)、Omicron能谱仪(XPS)、Radiant Premier Precision II系统(漏电流测量)、PSM1735阻抗分析仪(介电测量)、7特斯拉SQUID振动样品磁强计(磁性能测量)。
4:实验流程与操作规范:
在330-350 mTorr氧压下,以700°C衬底温度逐层沉积20分钟。沉积完成后在环境氧压下冷却至室温。
5:数据分析方法:
采用XRD和拉曼光谱进行结构分析,XPS分析化学态,阻抗与漏电流测量电学性能,SQUID磁强计分析磁性能。
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获取完整内容-
X-ray diffractometer
Bruker D2 Phasor
Bruker
Used for structural analysis of the films
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PLD KrF laser excimer
Lambda Physik ComPex 201
Lambda Physik
Used for pulsed laser deposition of thin films
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Micro Raman spectrometer
Jobin Yvon Horibra LABRAM-HR
Jobin Yvon
Used for Raman scattering spectroscopy
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Omicron energy analyzer
EA-125
Omicron
Used for X-ray photoelectron spectroscopy
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Radiant Premier Precision II System
Radiant Technologies
Used for leakage current measurements
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PSM1735 Impedance Analyzer
Used for dielectric constant, loss tangent, and impedance measurements
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7-Tesla SQUID Vibrating sample magnetometer
SVSM
Quantum Design Inc.
Used for magnetic properties measurements
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