研究目的
研究ZnxSn1?xSe(ZTSe)薄膜的制备与表征,重点考察其结构、形貌、光学及电学特性在薄膜太阳能电池中的应用。
研究成果
通过化学分子束沉积法制备的ZTSe薄膜呈现立方和正交结构,晶粒尺寸介于2至20微米之间。随着组分向ZnSe方向变化,光学带隙增大。研究发现,随着ZnSe含量增加,电导率类型从p型反转为n型,同时电导率降低。这些发现揭示了ZTSe薄膜在薄膜太阳能电池中的应用潜力,但其性能优化仍需进一步研究。
研究不足
该研究的局限性在于衬底温度范围(500-600°C)和ZnxSn1?xSe薄膜的成分范围。在较高衬底温度下出现的导电类型反转和晶粒尺寸减小现象,提示了进一步优化的潜在方向。
1:实验设计与方法选择:
采用常压氢气流动下的化学分子束沉积法制备ZnxSn1?xSe(ZTSe)薄膜。以纯度为99.999%的ZnSe和SnSe粉末作为前驱体,前驱体温度控制在(850–950)°C范围内。薄膜在(500–600)°C的衬底温度下沉积于硼硅酸盐玻璃基底上。
2:999%的ZnSe和SnSe粉末作为前驱体,前驱体温度控制在(850–950)°C范围内。薄膜在(500–600)°C的衬底温度下沉积于硼硅酸盐玻璃基底上。
样品选择与数据来源:
2. 样品选择与数据来源:通过改变(ZnSe)/(SnSe)比例的气相混合物来控制薄膜成分。
3:实验设备与材料清单:
设备包括用于XRD测量的衍射仪'Empyrean'(帕纳科公司)、用于形貌研究的SEM-EVO MA 10以及用于化学成分分析的EDX(牛津仪器-Aztec Energy Advanced X-act SDD)。
4:实验步骤与操作流程:
采用Cu Kα辐射的XRD测量研究晶体结构,通过SEM和EDX分析形貌及化学成分,电学测量使用范德堡法。
5:数据分析方法:
晶粒尺寸通过德拜-谢乐公式计算,带隙由(αhν)2与hν曲线直线部分在hν轴上的截距确定。
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