研究目的
研究波导倏逝场中Belinfante动量传递对光子极化状态的依赖性,并开发一种微创方法来探测光子芯片内部的极化状态。
研究成果
研究表明,倏逝场中作用于米氏粒子的横向力以一种非平凡的方式依赖于这些粒子的共振动力学特性,从而能够反推出波导内部光的偏振态。该方法提供了一种局部、微创的探测光子芯片内偏振状态的方式,在光通信系统中具有潜在应用价值。
研究不足
该研究未包含用于将探测粒子定位在表面附近的捕获光束的影响,这可能会影响探测粒子的动力学特性。此外,还忽略了粒子与波导表面之间的多次反射效应,这些效应可能对倏逝场光学力产生二阶贡献。
1:实验设计与方法选择:
本研究对倏逝场中作用于粒子的光学力进行理论与数值分析,将先前工作中推导的形式体系扩展至允许任意入射光偏振态。采用米氏理论计算介电球体的散射场,并直接通过米氏散射系数求解作用力。
2:样本选择与数据来源:
分析对象为波导产生的倏逝场附近不同尺寸(半径100-350纳米)的硅纳米颗粒,入射光采用高斯光束轮廓建模。
3:实验设备与材料清单:
主要材料包括硅纳米颗粒、波导及高斯光束光源,全波数值模拟通过COMSOL软件实现。
4:实验流程与操作步骤:
研究从介电介质单界面开始,逐步增加界面以模拟真实波导上方的受力情况,根据倏逝场偏振态与颗粒光学特性计算颗粒受力。
5:数据分析方法:
分析横向力与颗粒共振动力学的关系,并基于不同尺寸颗粒的平衡位置重建波导内部偏振态。
独家科研数据包,助您复现前沿成果,加速创新突破
获取完整内容