研究目的
为了在受控条件下研究霜冻胁迫如何随时间表现为小麦植株各组分光谱反射率的变化。
研究成果
研究表明，利用高光谱成像技术可在霜冻发生后1至5天内检测到由霜冻胁迫引起的光谱反射率变化。在电磁波谱多个区域中，不同处理组随时间推移呈现出显著差异，这为未来研究和霜冻损伤识别的传感器选择提供了潜在方向。
研究不足
该研究是在受控条件下进行的，可能无法完全复现田间条件。在自然霜冻条件下观察到的光谱响应可能会有所不同。
小麦霜冻胁迫检测：基于可控环境高光谱技术的小麦植株组分研究及其对多光谱田间传感的启示
DOI：10.3390/rs12030477
期刊：Remote Sensing
出版年份：2020
更新时间：2025-09-19 17:13:59
摘要：
植物生殖生长阶段遭遇辐射霜冻可能导致小麦（Triticum aestivum L.）严重减产。为预防和管理此类损失已投入大量努力，包括霜冻后遥感监测损害。本研究在受控条件下开展，旨在探究人为施加的霜冻胁迫对小麦植株器官（穗部与旗叶）光谱响应的影响。通过高光谱剖面分析技术，检测霜冻发生后短期内（直至霜后第5天）小麦器官是否出现显著变化。研究发现：无论霜后天数如何，穗部蓝绿光区（419-512纳米）、红光区（610-675纳米）及近红外区（749-889纳米），以及叶片蓝光区（415-494纳米）、红光区（670-687纳米）和近红外区（727-889纳米）的光谱特征在霜冻处理间均存在显著差异。时间与霜冻处理的交互作用导致穗部绿光区（544-575纳米）和近红外区（756-889纳米），以及叶片紫外区（394-396纳米）和绿红光区（564-641纳米）出现显著差异。研究将这些发现与常用田间农业多光谱传感器的时间-空间分辨率进行对比，基于实验室高光谱研究结果与多光谱波段的对应关系，评估这些传感器在冠层尺度霜冻损害研究中的适用性潜力。
作者：
Mary E. Murphy，Bryan Boruff，J. Nikolaus Callow，Ken C. Flower
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