研究目的
提出一种构建和设置高分辨率电致发光（EL）相机的流程，该相机配备低成本硅传感器，用于在室内和室外检测晶体硅光伏组件中的常见缺陷。
研究成果
研究表明，经过改装的商用CMOS相机可有效用于光伏组件的电致发光测试，其效果与更昂贵的铟镓砷相机相当。结合使用I-V曲线和EL图像能够全面分析光伏组件性能并识别缺陷。
研究不足
改进后的CMOS相机在1000-1200纳米波段的响应性能相比InGaAs传感器较差。所选镜头不具备自动对焦功能，需要持续手动调节焦距。
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[2019年IEEE第46届光伏专家会议（PVSC）- 美国伊利诺伊州芝加哥（2019年6月16日-2019年6月21日）] 2019年IEEE第46届光伏专家会议（PVSC）- 实验室及现场硅光伏组件电致发光检测红外相机的实现与应用
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[2019年IEEE第46届光伏专家会议（PVSC）- 美国伊利诺伊州芝加哥（2019年6月16日-2019年6月21日）] 2019年IEEE第46届光伏专家会议（PVSC）- 实验室及现场硅光伏组件电致发光检测红外相机的实现与应用
DOI：10.1109/PVSC40753.2019.8980711
出版年份：2019
更新时间：2025-09-19 17:13:59
摘要：
电致发光（EL）是一种无损检测技术，用于识别光伏（PV）组件中最常见的缺陷。高分辨率EL图像通常由配备不同半导体（砷化铟镓或硅传感器）的红外敏感相机获取。本研究提出了一种构建和设置高分辨率EL相机的方案，该相机采用低成本硅传感器，适用于晶体硅组件，可在室内（实验室）和室外（现场）进行EL测试。实际光伏电站的实验结果表明，结合使用I-V曲线和EL图像能够有效确定功率损耗量及其成因。
作者：
Alessandro Ciocia，Alessio Carullo，Paolo Di Leo，Gabriele Malgaroli，Filippo Spertino
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