研究目的
研究横向耦合InAs亚单层量子点基光电探测器中隧道诱导光生载流子逃逸过程随覆盖度分数(0.4 ML至0.8 ML)的变化。
研究成果
该研究表明,通过调节SML覆盖度,可以控制带间复合与载流子隧穿这两个决定探测器整体性能的关键过程的相对时间尺度。较高的覆盖度分数能实现更快的光响应和更高的响应度,有望实现近室温光电探测。
研究不足
本研究仅限于调查覆盖度为0.4至0.8单原子层的InAs/GaAs亚单层量子点光电探测器。未探讨这些发现对其他材料或不同覆盖度范围的适用性和性能表现。
1:实验设计与方法选择:
本研究采用模拟与实验相结合的方法,定量描述温度依赖的带间光响应特性。
2:样品选择与数据来源:
样品基于分子束外延(MBE)技术在半绝缘GaAs衬底上生长的InAs/GaAs SML量子点异质结构。
3:实验设备与材料清单:
包括Keithley 4200 SCS系统与Tektronix TBS2102数字存储示波器(DSO)、450W氙灯配合Gemini-180单色仪,以及用于成像的原子力显微镜(AFM)。
4:实验流程与操作步骤:
测量量子点红外探测器(QDIP)的电流-电压特性及恒定偏压下光电流的时间变化,同时测定探测器的光谱响应。
5:数据分析方法:
通过给定量子点能级中光生载流子产生率下的载流子数简单速率方程,建立光电流的温度依赖模型。
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Keithley 4200 SCS
4200 SCS
Keithley
Performing current-voltage characteristics of QDIP devices
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Tektronix TBS2102 digital storage oscilloscope
TBS2102
Tektronix
Measuring the temporal variation of the photocurrent at constant bias
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Gemini-180 monochromator
Gemini-180
Measuring spectral photoresponse of the detector
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450 W xenon lamp
Providing light source for spectral photoresponse measurement
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Atomic force microscopy
Imaging the areal QD density
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