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[2019年IEEE光子学与电磁学研究秋季研讨会（PIERS-Fall） - 中国厦门（2019.12.17-2019.12.20）] 2019年光子学与电磁学研究秋季研讨会（PIERS-Fall） - 利用双各向异性惠更斯超表面调控电磁波

DOI：10.1109/PIERS-Fall48861.2019.9021663 出版年份：2019 更新时间：2025-09-23 15:19:57
摘要： 对无线设备性能的表征是开发符合最新通信协议的新型射频产品的关键。传统上，通信性能测试主要关注被测设备（如智能手机、平板电脑、笔记本电脑等）的射频性能。特别是，测试重点已从传导（即有线）测量转向更贴近实际的空中传输（OTA）方式，以评估这些设备在发射或接收模式下的射频性能。例如，2G和3G无线设备的接收性能可通过总全向灵敏度（TIS）来衡量，该指标取决于无线设备的天线和接收部分。这类测量可在混响室环境中进行。然而，标准TIS测量耗时较长，且无法反映多输入多输出天线系统在正交频分复用信道（如4G长期演进LTE系统中所遇场景）中的实际性能增益。因此，为同时满足时间和成本效益要求，本文提出一种基于吞吐量测量的新方法，用于确定LTE设备的TIS及分集性能。该方法表明：相较于标准TIS测量，直接通过OTA吞吐量测量能更快且精确地表征LTE设备的TIS特性。
作者： Ahmed Hussain，Per-Simon Kildal，Andrés Alayon Glazunov
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研究概述 实验方案 设备清单

研究目的

提出一种基于吞吐量测量的新方法，用于确定LTE设备的总各向同性灵敏度（TIS）和分集性能，以解决标准TIS测量耗时且无法反映MIMO-OFDM系统实际性能增益的问题。

研究成果

通过OTA吞吐量测量估算TIS和分集增益的提出方法，为标准TIS测量提供了更快速高效的替代方案，且理论模型与实验结果高度吻合。该研究表明，吞吐量测量能够全面洞察LTE设备的性能表现，包括MIMO和OFDM分集增益的影响。

研究不足

该研究仅限于采用单比特流的SISO和MIMO系统，未考虑多比特流或发射端已知信道状态信息的情况。此外，所提方法的准确性可能受到被测设备非理想特性（如系统带宽内天线效率变化）的影响。

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