研究目的
通过脉冲激光沉积（PLD）法制备YAG:Ce,R（R：Gd3?和Pr3?）荧光薄膜，研究其成分、微观结构、光致发光特性及红光增强机制，以克服商用白光发光二极管（WLED）红光组分不足和热稳定性差的缺陷。
研究成果
通过脉冲激光沉积法成功制备的Pr-Gd-Ce三掺杂YAG透明荧光薄膜，其发射光谱主峰位置出现红移现象，并在红光区域产生发射峰。Gd3?与Pr3?的共掺杂使发光更趋近红光区，色调趋于暖色。该研究为利用荧光薄膜和透明陶瓷改善白光LED的"红光缺失"问题提供了新思路。
研究不足
该研究承认薄膜过薄（约7.13微米）且透射蓝光过多，影响了薄膜的色坐标。建议进一步优化薄膜制备工艺以提高YAG:Ce荧光薄膜的致密性和厚度。
1：实验设计与方法选择：
本研究采用脉冲激光沉积（PLD）技术制备YAG:Ce,R（R：Gd3?和Pr3?）荧光薄膜。方法包括通过超声共沉淀混合熔盐法合成荧光粉体，以及利用PLD制备透明荧光薄膜。
2：样品选择与数据来源：
样品基于(Y???Ce?)?Al?O??化学计量比制备（x=2%）。所用材料包括Y(NO?)?·6H?O、Al(NO?)?·9H?O、Ce(NO?)?·6H?O、Gd?O?、Pr?O??、HNO?和NH?HCO?。
3：实验设备与材料清单：
设备包括超声波清洗器、烘箱（DHG-9070 A，中国一恒）、电炉（FSL-20，中国瑞骥）、Nd:YAG激光装置、X射线粉末衍射仪（XRD，D8 ADVANCE，德国布鲁克）、扫描电子显微镜（SEM，S-3400N，日本日立）、能谱仪（EDS，Phoenix，日本日立，美国沃尔瑟姆）、FTIR-8300PCS（日本岛津）、荧光光谱仪（F-7000，日本日立）以及紫外-可见分光光度计（UV-2550，日本岛津）。
4：实验流程与操作步骤：
过程包含荧光粉体制备、掺杂荧光粉体合成、PLD制备透明荧光薄膜及薄膜表征。
5：数据分析方法：
研究分析了薄膜的成分与微观结构、光致发光特性及共掺离子间的能量传递。
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X-ray powder diffraction analyses
D8 ADVANCE
Bruke
Studying the purity and phase structures of annealed YAG thin films
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scanning electron microscope
S–3400N
Hitachi
Microstructural analysis of YAG thin films
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energy dispersive X-Ray spectroscopy
Phoenix
Hitachi
Analyzer for SEM
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fluorescence spectroscopy
F-7000
Hitachi
Obtaining emission and excitation spectra, as well as fluorescence lifetime
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UV–Vis spectrophotometer
UV-2550
Shimadzu
Testing transmittance curves
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oven
DHG-9070 A
Yiheng
Drying the filter cake
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electric furnace
FSL-20
Ruiji
Calcining the mixture
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Nd:YAG laser device
Sputtering light source for PLD
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FTIR-8300PCS
Shimadzu
Measuring FT-IR spectra
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