研究目的
利用同步辐射X射线粉末数据的全谱Rietveld方法,优化提拉法生长初始成分为CeSc3(BO3)4和Nd1.25Sc2.75(BO3)4的单晶中的对称性、结构特征及点缺陷。
研究成果
里特维尔德精修表明,初始配料组成为CeSc3(BO3)4和Nd1.25Sc2.75(BO3)4的直拉法生长粉末单晶在P321空间群中结晶。实际晶体组成为CeSc3(BO3)4和[Nd0.455(1)Sc0.045(39)(1)]Nd0.500(2)Sc3(BO3)4,存在反位缺陷(Sc占据Nd1三角柱位点)。X射线衍射研究排除了这些化合物在R32空间群中结晶的可能性。
研究不足
该研究的局限性包括:由于空间群R32和P321的理论衍射图谱几乎完全相似(仅部分反射峰强度重新分布),导致难以明确揭示空间群P321。
1:实验设计与方法选择
本研究采用同步辐射X射线粉末数据的全谱Rietveld法分析晶体的对称性、结构特征及点缺陷。
2:样品选择与数据来源
通过提拉法生长初始成分为CeSc3(BO3)4(CSB-1.0)和Nd1.25Sc2.75(BO3)4(NSB-1.25)的单晶。从粉末晶体中取样进行微探针分析,并采用X射线粉末衍射进行研究。
3:实验设备与材料清单
X射线粉末衍射实验在库尔恰托夫同步辐射源的X射线结构分析光束线站完成,使用Rayonix SX 165二维探测器。
4:实验流程与操作步骤
采用λ=0.78972 ?波长下的'透射'方案记录空间衍射图样,通过Dionis软件将探测器获取的二维衍射图样整合为标准强度-散射角I(2θ)关系曲线。
5:数据分析方法
基于Jana2006软件运用Rietveld轮廓精修原理对晶体结构进行精修,包括晶胞参数、原子坐标、原子位移参数以及RE、Sc、B和O晶体学格位的占位度精修。
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