研究目的
研究Sn掺杂Ga2O3形成SnxGa1-xO纳米结构对扩展紫外光探测范围及实现光电探测器超低暗电流的影响。
研究成果
基于SnxGa1-xO纳米结构的光电探测器展现出扩展的紫外检测范围和超低暗电流,使其成为长距离深紫外检测应用的有力候选者。该器件还表现出高光电暗电流比的自供电特性。
研究不足
该研究聚焦于SnxGa1-xO纳米结构的制备与表征以实现紫外光探测,但在可扩展性及集成至现有光电探测器技术方面可能存在局限。
1:实验设计与方法选择:
采用低压化学气相沉积法(LPCVD)在c面蓝宝石衬底上沉积SnxGa1-xO纳米结构。
2:样品选择与数据来源:
将100毫克镓和14毫克锡共同置于管式炉内的石英舟中。
3:实验设备与材料清单:
石英管、管式炉、氩气、氧气、X射线粉末衍射仪(PXRD)、场发射扫描电子显微镜(FESEM,Nova Nano-SEM 450,FEI,美国)、紫外-可见光谱仪(LAMBDA 750 UV/Vis/NIR,珀金埃尔默,美国)、拉曼光谱仪集成光致发光光谱仪(LabRAM HR可见光,堀场Jobin Yvon)。
4:实验流程与操作步骤:
以150 sccm氩气和10 sccm氧气流量将温度升至1050°C,沉积时间为1小时。
5:数据分析方法:
通过XRD分析晶体取向,FESEM观察形貌结构,UV-VIS测定吸收特性,I-V和I-T特性评估光电探测性能。
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