研究目的
研究生长温度对CdTe太阳能电池用CdS:O薄膜结构和光学性能的影响。
研究成果
与纯氩气环境中沉积的CdS薄膜相比,室温(RT)下沉积的CdS:O薄膜因其更高的光学透过率和增大的带隙,被发现更适合用于CdTe太阳能电池。该研究为光电器件应用中CdS:O薄膜的生长条件提供了有价值的见解。
研究不足
本研究仅限于生长温度对CdTe太阳能电池用CdS:O薄膜结构和光学性质的影响,未探讨氧分压和沉积时间等其他参数的影响。
1:实验设计与方法选择:
采用反应射频磁控溅射技术在1.5%氧气(O?)/氩气(Ar)环境中,以25°C至300°C的衬底温度为变量,在商用钠钙玻璃(SLG)上制备CdS:O薄膜层。
2:5%氧气(O?)/氩气(Ar)环境中,以25°C至300°C的衬底温度为变量,在商用钠钙玻璃(SLG)上制备CdS:
2. 样品选择与数据来源:使用商用实验室级钠钙玻璃(SLG)作为CdS薄膜的衬底材料。
3:样品选择与数据来源:
3. 实验设备与材料清单:帕纳科X射线衍射仪(XRD)、岛津UV-2600紫外-可见分光光度计、射频溅射腔室。
4:实验设备与材料清单:
4. 实验流程与操作步骤:以直径50毫米的分析纯(99.99%)CdS为靶材,在SLG衬底上沉积CdS:O薄膜。采用超高纯氩气(Ar)作为工艺气体,通过质量流量控制器经LabVIEW界面调节流量至16 SCCM。沉积过程中CdS靶材的射频功率保持30W恒定。
5:实验流程与操作步骤:
5. 数据分析方法:分别通过X射线衍射和紫外-可见光谱技术分析生长态CdS:O薄膜的结构特性与光学性能。
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获取完整内容-
Panalytical Diffractometer
X-ray diffraction (XRD)
Panalytical
Used for structural analysis of the as-grown CdS:O thin films.
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UV-Vis spectrophotometer
UV-2600
SHIMADZU
Used for optical properties analysis of the deposited CdS thin films on SLG substrates.
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RF sputtering chamber
Used for the synthesis of CdS:O layer on commercially available soda-lime glass (SLG).
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