研究目的
研究二维二硫化钼纳米片在液/液界面的组装，以制备高性能薄膜器件。
研究成果
与传统的自上而下方法相比，液/液组装法制备的MoS2薄膜具有更优异的均匀性和覆盖度，从而能制造出迁移率和开关比与化学气相沉积（CVD）生长或机械剥离MoS2器件相当的高性能场效应晶体管（FET）。该方法为二维材料基电子器件的规?；票柑峁┝丝尚型揪?。
研究不足
该研究的局限性在于组装过程中可能存在薄片重叠问题，且需要通过介电涂层和表面处理等方法进一步优化器件性能。
1：实验设计与方法选择：
本研究通过界面张力梯度驱动，在两种不相溶液体（己烷和水）的界面处组装二硫化钼纳米片。
2：样品选择与数据来源：
二硫化钼纳米片通过电化学剥离法制备，并采用原子力显微镜（AFM）、扫描电子显微镜（SEM）和紫外-可见光谱仪进行表征。
3：实验设备与材料清单：
原子力显微镜（Dimension FastScan，布鲁克）、扫描电子显微镜（Ultra 55 FEG SEM，蔡司）、紫外-可见光谱仪（Lambda 25，珀金埃尔默）以及X射线衍射仪（Rigaku SmartLab）。
4：实验步骤与操作流程：
纳米片在液/液界面处组装，所得薄膜转移至基底上进行表征和器件制备。
5：数据分析方法：
AFM数据使用Gwyddion软件处理，并通过统计分析比较不同组装方法的薄膜均匀性。
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X-ray Diffractometer
SmartLab
Rigaku
Obtaining XRD patterns
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UV-Vis Spectrometer
Lambda 25
Perkin Elmer
Performing UV-Vis spectroscopy
