研究目的
研究量子点固体中电荷积累与载流子迁移率的按需调控，以应用于电子传输和储能器件。
研究成果
研究表明，不同沉积技术可制备出具有独特电学特性的量子点组装结构。浸涂法形成的分级多孔结构表现出高载流子积累特性，适用于储能应用；而液/气界面组装法获得的致密有序组装体则展现出高电子迁移率，有利于电子器件性能提升。该发现揭示了通过调控组装形貌来优化量子点基器件性能的重要性。
研究不足
该研究的局限性在于所使用的特定类型量子点及组装方法。研究结果可能无法直接适用于其他量子点材料或组装技术。此外，液/气界面组装方法在工业应用中的可扩展性仍有待探索。
1：实验设计与方法选择：
本研究采用三种不同的量子点组装方法：常规逐层旋涂法、逐层慢速浸涂法以及在液/气界面组装。每种方法均针对特定组装形貌和电学性能进行了优化。
2：样品选择与数据来源：
选用尺寸为4.0±0.7 nm的PbS量子点作为模型材料，通过原子力显微镜（AFM）、透射电子显微镜（TEM）和电学测量对组装体进行表征。
3：0±7 nm的PbS量子点作为模型材料，通过原子力显微镜（AFM）、透射电子显微镜（TEM）和电学测量对组装体进行表征。 实验设备与材料清单：
3. 实验设备与材料清单：设备包括日立AFM 5100 N原子力显微镜、JEM-1230透射电镜及半导体器件分析仪（Keysight B1500A）；材料包含PbS量子点、[EMIM][TFSI]离子液体及用于配体交换的多种溶剂。
4：实验流程与操作步骤：
流程涵盖量子点组装体形成、配体交换、薄膜形貌表征，以及采用场效应晶体管（FET）和电解场效应晶体管（EDLT）进行电学性能测量。
5：数据分析方法：
TEM图像分析使用ImageJ软件，载流子迁移率和电容计算采用标准公式。
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