研究目的
研究电晕处理对聚偏氟乙烯（PVDF）膜微观结构的影响。
研究成果
电晕处理会诱导聚偏氟乙烯（PVDF）中β相的形成，并改变其孔结构——初期使膜更疏松，随后逐渐致密化，最终因长时间处理导致开裂。这表明电晕处理对PVDF膜的本体结构具有显著影响。
研究不足
该研究仅限于在特定条件（5千伏电压、3毫米距离）下电晕处理对聚偏氟乙烯膜微观结构的影响。未探究经处理膜在实际应用中的长期稳定性和性能表现。
1：实验设计与方法选择：
研究采用电晕放电处理聚偏氟乙烯（PVDF）膜，并通过X射线衍射（XRD）和电化学阻抗谱（EIS）分析微观结构变化。
2：样本选择与数据来源：
PVDF膜通过相转化法制备，并进行不同时间的电晕放电处理。
3：实验设备与材料清单：
PVDF粉末、N,N-二甲基甲酰胺（DMF）、氯化钾（KCl）、X射线衍射仪（XRD）、CS310H阻抗分析仪。
4：实验步骤与操作流程：
PVDF膜经1至5小时电晕放电处理后，通过XRD和EIS分析研究结构变化。
5：数据分析方法：
根据EIS数据计算膜电阻和电容，评估孔结构变化。
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