研究目的
测量经Er2O3修饰的W(100)表面功函数以实现高性能电子源。
研究成果
经1500K加热修饰Er2O3的W(100)单晶表面功函数为2.86eV。Er氧化物/W(100)表面在反复加热后仍能保持稳定的低功函数特性，适合作为热场发射体使用。
研究不足
通过光电子发射显微镜（PEEM）测量功函数更为直接，但需要特定条件和设备。已注意到肖特基效应的影响。
1：实验设计与方法选择：
采用光电子发射显微镜（PEEM）和场发射显微镜（FEM）测量功函数，通过福勒图和福勒-诺德海姆图估算功函数值。
2：样品选择与数据来源：
使用直径8毫米、厚度0.1毫米的圆形单晶钨板，将Er2O3粉末溶于乙醇后涂覆于样品表面。
3：1毫米的圆形单晶钨板，将Er2O3粉末溶于乙醇后涂覆于样品表面。 实验设备与材料清单：
3. 实验设备与材料清单：PEEM腔室、钨板、Er2O3粉末、乙醇、超高真空腔室、荧光屏、静电计。
4：实验步骤与操作流程：
将样品加热至1500K，用特定频率光照获取PEEM图像，通过氧化铒/钨发射极测量场发射特性。
5：数据分析方法：
根据福勒图和福勒-诺德海姆图估算功函数。
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获取完整内容-
photoemission electron microscope
Measuring the work function of surfaces
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field emission microscopy
Measuring field emission characteristics and estimating work function
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tungsten plate
Sample for work function measurement
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Er2O3 powder
Modifying the W(100) surface to measure work function
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