研究目的
为马赫-曾德尔调制器(MZM)设计一款抗辐射高速驱动器,以满足高能物理实验的严苛要求,包括高数据速率和抗辐射性能。
研究成果
所提出的电路设计满足10 Gbps马赫-曾德尔调制器驱动能力的严格要求,电流预算为80 mA。该设计的抗辐射能力估计可达数百兆拉德,后续工作包括进行制造和测试,以测量总电离剂量(TID)和单粒子效应(SEE)辐射损伤后的速度退化情况。
研究不足
该设计未采用厚氧化层器件以避免总剂量(TID)辐射损伤问题,将最大电压限制在1.2伏。电路的抗辐射能力基于模型和过往经验估算,需进一步测试验证。
1:实验设计与方法选择:
该设计采用CMOS 65纳米1.2V工艺技术,通过深n阱隔离域电路实现多电压隔离,以满足MZM(马赫-曾德尔调制器)的高电压摆幅和偏置调节要求。
2:2V工艺技术,通过深n阱隔离域电路实现多电压隔离,以满足MZM(马赫-曾德尔调制器)的高电压摆幅和偏置调节要求。
样品选择与数据来源:
2. 样品选择与数据来源:MZM原型基于硅光子学iSiPP50G工艺实现。
3:实验设备与材料清单:
TSMC CMOS 65纳米工艺,IMEC ePIXfab硅光子学iSiPP50G工艺。
4:实验流程与操作步骤:
设计包含差分输出驱动器、电平转换器、20位串行器、SLVS差分接收器、时序调整??榧捌玫髡??。
5:数据分析方法:
在Cadence Spectre环境下进行电路级仿真,验证设计在10 Gbps速率下的性能及其抗辐射能力。
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