研究目的
对影响几种新型辐射探测器材料信噪比的噪声源及其对噪声功率贡献的研究。
研究成果
噪声测量可作为评估潜在探测器样品和化合物的有效筛选工具?；衔锇氲继澹≧b3Sb2I9和Cs3Sb2I9）的本底噪声为-90分贝，观测到低白噪声及预期的1/f噪声贡献。该低噪声本底表明这些三元化合物半导体在包括低通量X射线和伽马射线探测器在内的噪声敏感应用中具有潜在优势。
研究不足
对于α值小于一的样品，其偏离简单1/f依赖关系的原因目前正在研究中。这些偏差会导致探测器性能下降。
1：实验设计与方法选择：
本研究通过测量光导三元化合物的频率相关噪声谱来探究硬辐射探测器性能，识别并分析了主要噪声来源。
2：样本选择与数据来源：
研究对象包括Cs3Sb2I9、Rb3Sb2I9、Hg3Se2I2和TlSn2I5。这些材料因其带隙、电阻率、迁移率-寿命积及X射线响应特性与CdZnTe（CZT）相当而被选用。
3：Rb3Sb2IHg3Se2I2和TlSn2I5。这些材料因其带隙、电阻率、迁移率-寿命积及X射线响应特性与CdZnTe（CZT）相当而被选用。 实验设备与材料清单：
3. 实验设备与材料清单：使用Keithley 2636电流源表、SRS PS325高压直流电源、电荷灵敏前置放大器（eV-550）及ORTEC放大器（型号572A）。
4：实验流程与操作步骤：
在黑暗环境中测量I-V特性；探测器噪声研究通过辐射探测系统进行——将探测器置于密闭屏蔽箱内并连接前置放大器，通过示波器记录前置放大器信号并进行噪声分析。
5：数据分析方法：
采用快速傅里叶变换（FFT）分离时变数据中的频率相关成分（1/f噪声）与频率无关成分（白噪声）。
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Keithley 2636 current source meter
2636
Keithley
Measuring I-V characteristics in the dark
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SRS PS325 high voltage dc power supply
PS325
SRS
Providing high voltage dc power
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charge sensitive preamplifier
eV-550
eV Products, Inc.
Amplifying the signal from the detector
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ORTEC amplifier
Model 572A
ORTEC
Amplifying and shaping the signal from the preamplifier
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