研究目的
基于给定工作条件下利用RTD预测RFID无源标签供电系统可靠性的方法开发。
研究成果
所开发的方法可通过计算特定工作条件下基于RTD退化的失效时间来预测RFID无源标签供电系统的可靠性。该方法可集成至CAD系统，用于设计带有无源UHF和SHF标签的RFID系统。
研究不足
该方法未考虑其他整流天线元件的突发故障，仅关注由RTD退化导致的渐进性故障。其失效判据基于射频识别系统作用距离降至临界值以下，可能无法涵盖所有可能的失效模式。
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[IEEE 2018年国际俄罗斯自动化会议（RusAutoCon）- 俄罗斯索契（2018.9.9-2018.9.16）] 2018年国际俄罗斯自动化会议（RusAutoCon）- 基于A<inf>3</inf>B<inf>5</inf>共振隧穿二极管的射频识别无源标签供电系统可靠性预测
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[IEEE 2018年国际俄罗斯自动化会议（RusAutoCon）- 俄罗斯索契（2018.9.9-2018.9.16）] 2018年国际俄罗斯自动化会议（RusAutoCon）- 基于A<inf>3</inf>B<inf>5</inf>共振隧穿二极管的射频识别无源标签供电系统可靠性预测
DOI：10.1109/RUSAUTOCON.2018.8501748
出版年份：2018
更新时间：2025-09-10 09:29:36
摘要：
开发了一种预测射频识别（RFID）无源标签供电系统可靠性的方法。该可靠性通过参数失效进行评估，这种失效与谐振隧穿二极管（RTD）的I-V特性漂移相关——作为标签整流器组成部分的RTD在外部因素超出耐受极限时会出现此类漂移。研究提出了基于最小允许范围准则计算RFID无源标签供电系统失效时间的可靠性方法。该方法可用于设计无源UHF和SHF标签的RFID系统，以预测其在特定工作条件下的可靠性。所开发的算法和软件?？榭杉芍料嘤AD系统中。
作者：
Mstislav Makeev，Vladimir Sinyakin，Sergey Meshkov
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