研究目的
通过掺杂不同比例的稀土元素Ce来改善Ag/SnO2触头材料的性能,以提高导电性并降低硬度。
研究成果
研究表明,当Ce掺杂比例为0.125时,Ag/SnO2触头材料具有最高的电子迁移率、最佳的导电性、降低的硬度以及最小的通用弹性各向异性指数。模拟与实验结果高度吻合,为改善Ag/SnO2触头材料的电学性能提供了方法。
研究不足
该研究仅限于银/氧化锡触头材料中稀土元素Ce的掺杂,未探索其他掺杂剂或组合。实验条件具有特定性(24伏、13安培及86厘牛接触压力),可能无法涵盖所有实际应用场景。
1:实验设计与方法选择:
基于密度泛函理论第一性原理,将不同比例的稀土元素Ce掺杂入SnO2中。研究包括几何优化、能带结构、态密度及弹性常数计算。
2:样品选择与数据来源:
采用溶胶-凝胶法制备不同掺杂比例的SnO2粉末,并通过粉末冶金法制备对应比例的Ag/SnO2触头材料。
3:实验设备与材料清单:
Materials Studio软件(含CASTEP??椋?、JF04C电接触材料测试仪、HXD-1000TM数字式显微硬度计及扫描电子显微镜(SEM)。
4:实验步骤与操作流程:
在24V电压、13A电流、86cN接触压力条件下进行通断周期为0.4秒的电接触性能测试。
5:4秒的电接触性能测试。 数据分析方法:
5. 数据分析方法:通过接触电阻和电弧能量评估导电性,测量硬度并用SEM观察电弧烧蚀形貌。
独家科研数据包,助您复现前沿成果,加速创新突破
获取完整内容-
Materials Studio
CASTEP module
Accelrys
Software for simulating and analyzing materials properties.
-
JF04C electrical contact material tester
JF04C
Testing the electrical contact properties of materials.
-
HXD-1000TM digital microhardness tester
HXD-1000TM
Measuring the hardness of samples.
-
Scanning electron microscopy
Observing the arc ablation morphology of contact materials.
-
登录查看剩余2件设备及参数对照表
查看全部