研究目的
研究W6+掺杂对CaBi4Ti4O15 Aurivillius压电陶瓷相结构和电学性能的影响,特别是高温下的导电机制。
研究成果
该研究从微观结构角度深入揭示了传导过程与机理,对Aurivillius压电陶瓷的高温应用具有重要价值。通过适量掺杂W6+,CaBi4Ti4O15的压电系数d33得到提升,并在高达650°C的温度下保持了良好的温度稳定性。
研究不足
该研究聚焦于500°C至650°C温度范围及W6+掺杂对CaBi4Ti4O15 Aurivillius压电陶瓷的影响。潜在优化方向包括扩展温度范围及探索其他掺杂元素。
1:实验设计与方法选择:
该研究采用复杂阻抗谱技术在500°C至650°C温度范围内表征导电性能。
2:样品选择与数据来源:
通过传统固相反应法制备了CaBi4Ti4?xWxO15陶瓷样品。
3:实验设备与材料清单:
X射线衍射仪(D/max2550V;日本理学,东京)、扫描电子显微镜(日立,东京)、LCR测试仪(型号E4980A;是德科技,美国)、阻抗分析仪(型号E4990A;是德科技,美国)。
4:实验流程与操作步骤:
通过XRD测量对样品进行表征,使用SEM观察形貌,并采用LCR测试仪和阻抗分析仪测量其电学性能。
5:数据分析方法:
复杂阻抗结果通过四种相互关联的电学响应形式进行解析:复阻抗(Z*)、电模量(M*)、复导纳(Y*)和复介电常数(ε*)。
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X-ray diffraction measurement
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Characterization of phase structure for the CBTW-100x samples
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Measurement of dielectric properties
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