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线-平面偏转测量法

DOI:10.1088/1361-6501/aae56b 期刊:Measurement Science and Technology 出版年份:2018 更新时间:2025-09-09 09:28:46
摘要: 相位测量偏折术中的关键问题在于求解入射光,该入射光用于确定表面法线。为重建三维镜面信息,提出线-平面偏折术通过反射光与包含入射光的入射光平面来确定表面法线。为此,采用点光源替代传统偏折术的连续面光源,相应地通过点光源两个及以上投影光所确定的入射光平面交线来计算入射光。最终通过径向基函数插值法,从由法线信息转换得到的梯度中重建精确镜面。为验证该方法,开发了由两个投影仪和一个相机组成的线-平面偏折术系统。该系统可根据不同测量需求应用于两种模式:"线-平面模型"与"线-平面组模型"。其中"线-平面模型"测量误差小于0.25毫米,适用于低精度非连续物体;而"线-平面组模型"可测量高精度且区域连通性良好的物体,测量误差约1微米。
作者: Chen Li,Xu Zhang,Dawei Tu
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研究概述 实验方案 设备清单

通过线-面偏转测量法,根据反射光与包含入射光的入射光平面确定表面法线,从而重建三维镜面信息。

所提出的线-面偏折测量法通过根据反射光平面与入射光平面确定表面法向,有效还原三维镜面信息。该系统可应用于两种不同精度要求的测量模式:适用于低精度非连续物体的"线-面模型",以及适用于高精度且区域连通性良好的"线-面模型"。

该研究提到了投影仪和摄像机的视野范围限制,这影响了有效测量区域。"线-面模型"的重建误差小于0.25毫米,而"线-面组合模型"的测量误差约为1微米。

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