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[IEEE 2017年第14届印度理事会国际会议(INDICON) - 鲁尔基 (2017.12.15-2017.12.17)] 2017年第14届IEEE印度理事会国际会议(INDICON) - 单步与多步干涉图处理技术的对比分析

DOI：10.1109/indicon.2017.8487516 出版年份：2017 更新时间：2025-09-09 09:28:46
摘要： 光学干涉图的数字处理技术在工程和科学研究中有着广泛的应用，包括台阶高度、倾斜角度、微位移、形变等测量。两种主要的干涉图处理技术是相移法（PS）和傅里叶变换法（FTM）。相移法用于从多幅相移干涉图中解调相位信息，而傅里叶变换法则从单幅干涉图中提取相位信息。本文通过仿真分析对PS和FTM技术进行对比研究，基于测量系统中降低精度的两个常见问题——噪声和非正弦波形（谐波）来评估这两种技术。结合PS和FTM的优势，提出了一种新的多步成像技术，并基于相同参数进行比较。同时讨论了各技术的优缺点。
作者： Amit Chatterjee，Jitendra Dhanotia，Vimal Bhatia，Santosh Rana，Shashi Prakash
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研究概述 实验方案 设备清单

研究目的

对从光学干涉图中提取相位的相移法（PS）和傅里叶变换法（FTM）技术进行对比分析，解决噪声和非正弦波形问题，并提出一种结合PS与FTM优势的新型多步成像技术。

研究成果

傅里叶变换法（FTM）在从含噪条纹图中进行相位恢复时效率更高，而相移技术（PS）则在谐波抑制方面表现优异。本文提出的傅里叶滤波相移技术结合了两者的优势，为实际计量实验中未知条纹畸变类型的情况提供了一种高效解决方案。

研究不足

该研究基于模拟分析，可能无法完全反映实际应用中的所有挑战。未探讨所提技术在动态测量及不同实验条件下的性能表现。

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