研究目的
研究基于YBCO外延薄膜的忆阻器结构中渗流通道的输运特性,以揭示此类通道的形成机制。
研究成果
忆阻性YBCO异质结构中的高阻态OFF状态由结构的势垒特性决定。电极附近电场的不均匀分布会形成具有更高电场强度的区域,其特征是薄膜表层中氧缺陷的运动和重新分布以及所有结构电阻特性的改变。渗流通道是在多种过程作用下由一系列氧无序畴形成的:结构电极上隧道通道的形成以及氧向氧空位的电扩散。该通道的超导转变临界温度可通过通过结构传导的电流进行控制,其范围为0 K–60 K。
研究不足
该研究并未就渗流通道中弱连接的约瑟夫森特性给出最终结论,因此需要开展更多研究。
1:实验设计与方法选择:
本研究采用分子电子学和安德烈夫反射谱技术,探究电极超导转变对这些结构中电阻开关效应的影响。
2:样品选择与数据来源:
通过脉冲激光沉积技术制备了具有最高超导转变临界温度(Tc)的外延薄膜YB2C3O7?δ(YBCO),衬底为5×10 mm2尺寸的SrTiO3 (100)单晶。
3:实验设备与材料清单:
采用X射线光电子能谱检测薄膜质量。介观异质结构分为两类:第一类为微接触型,第二类通过光刻工艺制备。
4:实验流程与操作步骤:
研究所得异质结以确认电阻开关现象、电流-电压特性曲线及结构电阻的温度依赖性。通过改变外加参数——施加于异质结的电压频率与幅值,实现了新的亚稳态。
5:数据分析方法:
亚稳态Ron的电阻温度依赖性可揭示结构各组分对电阻的贡献。
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