研究目的
本手稿的主要目标是将HMC作为一种专门用于求解断层扫描反问题的工具进行介绍,这类问题通常具有弱非线性特征。
研究成果
结合伴随方法和哈密尔顿蒙特卡洛这两种强大技术,或可为高维非线性层析问题提供全面解决方案。哈密尔顿蒙特卡洛的潜力在于其能高效采样高维模型空间,如第4.1节和第4.3节的示例所示。
研究不足
HMC的主要计算需求源于沿轨迹评估哈密顿量导数的需要。HMC的计算成本受平均轨迹长度的强烈控制。质量矩阵的选择并非细节问题,而是一个可能使所需样本数量产生数量级变化的重要因素。
研究目的
本手稿的主要目标是将HMC作为一种专门用于求解断层扫描反问题的工具进行介绍,这类问题通常具有弱非线性特征。
研究成果
结合伴随方法和哈密尔顿蒙特卡洛这两种强大技术,或可为高维非线性层析问题提供全面解决方案。哈密尔顿蒙特卡洛的潜力在于其能高效采样高维模型空间,如第4.1节和第4.3节的示例所示。
研究不足
HMC的主要计算需求源于沿轨迹评估哈密顿量导数的需要。HMC的计算成本受平均轨迹长度的强烈控制。质量矩阵的选择并非细节问题,而是一个可能使所需样本数量产生数量级变化的重要因素。
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