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利用频谱诱导极化技术(SIP)检测包覆铁氧化物纳米颗粒:天然砂填充流动柱实验研究

DOI:10.1021/acs.est.8b03686 期刊:Environmental Science & Technology 出版年份:2018 更新时间:2025-09-09 09:28:46
摘要: 基于纳米颗粒的土壤修复技术发展受限于缺乏精确的原位纳米颗粒(NP)监测与表征方法。频谱诱导极化(SIP)作为一种非侵入式地球物理技术,为检测和量化多孔介质中的纳米颗粒提供了可行方案。但要将其成功应用于监测工具,需理解极化机制、与纳米颗粒相关的SIP响应特征及其对稳定涂层(环境应用中纳米颗粒通常采用的涂层)的依赖性。本研究展示了在填充博登含水层天然砂的流通柱中注入泊洛沙姆包覆超顺磁性氧化铁纳米颗粒(SPION)悬浮液时测量的SIP响应(0.1-10,000 Hz)。通过将平流-弥散传输模型拟合至出流SPION浓度测量值,计算SIP空间响应域(柱体内)的平均浓度。将平均SPION浓度与复电导率的实部及虚部进行对比,发现柱体内平均SPION浓度与虚电导率值呈现极佳对应关系,表明纳米颗粒介导的极化(即电荷存储)随SPION浓度增加成比例增强。研究结果证实了SIP监测纳米颗粒时空分布的可行性,该方法可立即应用于台架尺度研究,并有望未来推广至实际场地应用。
作者: Adrian Mellage,Andrew B. Holmes,Stuart Linley,Laureline Vallée,Fereidoun Rezanezhad,Neil Thomson,Frank X. Gu,Philippe Van Cappellen
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研究概述 实验方案 设备清单

研究频谱诱导极化(SIP)作为检测和量化多孔介质中包覆超顺磁性氧化铁纳米颗粒(SPIONs)的无创方法,并理解这些纳米颗粒相关的极化机制和SIP响应。

研究表明,频散电阻率法(SIP)能有效监测多孔介质中包覆超顺磁性氧化铁纳米颗粒(SPIONs)的时空分布,其虚部电导率值随SPION浓度呈正比增长。这证实了SIP作为环境应用中纳米颗粒迁移原位监测工具的潜力。

该研究仅限于使用天然砂的台架实验,可能无法完全代表现场条件。不同涂层和环境因素对SIP响应的影响有待进一步研究。

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