研究目的
通过计算二硫化钼层与衬底之间的界面电荷密度,研究不同衬底对单层二硫化钼场效应晶体管(FET)性能的影响。
研究成果
研究表明,与其他衬底相比,h-BN/Si衬底上的单层MoS2场效应晶体管表现出更优异的性能,其导通电流达到548微安/微米,亚阈值摆幅为65毫伏/十倍频程。这归因于更高的界面电荷密度和有效的载流子注入。该发现表明,通过衬底工程可显著提升单层MoS2场效应晶体管的性能,为其在电子器件领域的应用开辟了可能性。
研究不足
该研究聚焦于不同衬底对单层二硫化钼场效应晶体管性能的影响,但未探究沟道长度或温度变化所产生的效应。此外,模拟计算采用了弹道输运假设,这可能无法涵盖现实中的所有散射效应。
1:实验设计与方法选择:
本研究采用基于密度泛函理论的第一性原理计算分析界面电子密度,并运用含模空间的非平衡格林函数(NEGF_MS)方法模拟电子输运行为。
2:样本选择与数据来源:
针对单层二硫化钼场效应晶体管(MoS2 FET),选取了SiO2、HfSiO4、Si3N4、HfO2和h-BN等不同衬底材料。
3:HfSiOSi3NHfO2和h-BN等不同衬底材料。
实验设备与材料清单:
3. 实验设备与材料清单:使用Atomistix ToolKit软件和Silvaco ATLAS技术计算机辅助设计(TCAD)软件进行模拟。
4:实验流程与操作步骤:
提取界面电荷密度并用于数值模拟,以确定单层二硫化钼场效应晶体管的电学特性。
5:数据分析方法:
根据提取的界面电荷密度和电学特性,比较单层二硫化钼场效应晶体管在不同衬底上的性能表现。
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