研究目的
研究硅纳米线中径向分辨的电子结构和载流子输运,以理解电子特性的空间变化及其对传感器和场效应晶体管应用的影响。
研究成果
研究表明,硅纳米线的电子结构呈现显著的径向依赖性,载流子更倾向于在中心区域传输。当直径达到约5纳米时,体材料特性开始显现重要作用。传输路径分析揭示了电子与空穴传输的差异及其对晶向的依赖性。这些发现为基于硅纳米线的器件设计提供了重要依据。
研究不足
该研究未考虑氧化壳层对硅纳米线电子结构的显性影响(因其计算成本较高)。结果基于氢钝化处理,未广泛探究不同钝化物种或晶面取向的影响。
1:实验设计与方法选择:
采用密度泛函理论(DFT)研究不同直径和晶向的硅纳米线电子结构。使用Tran和Blaha提出的meta广义梯度近似(mGGA)势函数以获得正确的带隙值。
2:样本选择与数据来源:
研究对象为<110>和<100>晶向、直径0.9-5.9纳米的硅纳米线,所有悬键均用氢原子钝化处理。
3:9-9纳米的硅纳米线,所有悬键均用氢原子钝化处理。
实验设备与材料清单:
3. 实验设备与材料清单:使用Atomistix ToolKit 15.1软件进行DFT计算,选取双ζ极化基组,布里渊区采样采用1×1×51网格点。
4:1软件进行DFT计算,选取双ζ极化基组,布里渊区采样采用1×1×51网格点。
实验流程与操作步骤:
4. 实验流程与操作步骤:计算态密度并投影至硅原子各轨道,通过定义厚度0.25纳米的同心壳层实现径向分辨率。
5:25纳米的同心壳层实现径向分辨率。
数据分析方法:
5. 数据分析方法:采用标准差0.1电子伏特的高斯分布平滑态密度曲线以提取带边位置,计算传输路径以实现原子级电流输运可视化。
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