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通过模拟探究HAADF-STEM技术表征纳米复合材料中石墨烯分布的能力

DOI：10.1155/2018/4906746 期刊：Journal of Nanomaterials 出版年份：2018 更新时间：2025-09-08 09:54:54
摘要： 本文通过模拟高角环形暗?。℉AADF）图像，探究了扫描透射电子显微镜（STEM）技术测定碳基体中石墨烯层分散程度的能力。结果表明：未标记的石墨烯层仅在其取向与显微镜电子束平行时方可被检测；而金标记的石墨烯层可用于评估结构复合材料中的分散程度。此外，当采用合适的重建算法及包含沟道效应的二维投影时，电子断层扫描技术能真实呈现基体内部石墨烯片的3D分布状态。
作者： N. Baladés，M. López-Haro，S. I. Molina，D. L. Sales，M. Herrera，A. M. Raya，J. C. Hernández-Garrido
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研究目的

通过模拟研究高角环形暗场扫描透射电子显微镜（HAADF-STEM）技术表征纳米复合材料中石墨烯分布的能力。

研究成果

研究表明，当石墨烯片层沿电子束方向排列时，高角环形暗场扫描透射电镜（HAADF-STEM）技术能有效识别有机复合材料中的石墨烯片层。使用金等重原子标记石墨烯片层可增强对比度。电子断层扫描被证实是识别和定位纳米复合材料中增强区域的有效技术，其中体视学重建算法（TVM）的重建质量优于同步迭代重建技术（SIRT）。

研究不足

该研究基于模拟实验，其实际应用可能受限于在真实场景中实现聚合物基体内石墨烯高度均匀分散的挑战。

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