研究目的
实验和理论测定Sm2O3、SmI2和SmCl3化合物的总电子截面、总原子截面、有效原子序数及有效电子密度。
研究成果
该研究成功测定了Sm2O3、SmI2和SmCl3化合物的质量衰减系数、有效原子序数和电子密度。结果表明这些参数取决于化学环境、光子能量和吸收边。该发现对辐射屏蔽和医学成像应用具有重要意义。
研究不足
该研究仅限于在59.543 keV单光子能量下测量钐化合物的有效原子序数和电子密度。实验值与理论值的对比显示,SmCl3和SmI2存在差异,可能源于化学键合和电子亲和力的不同。
1:实验设计与方法选择:
通过透射几何法测定质量衰减系数、K系X射线及总吸收原子截面因子,采用配备多道分析器的Si(Li)探测器进行X射线检测。
2:样品选择与数据来源:
将Sm2O3、SmI2和SmCl3粉末样品以特定质量厚度支撑于聚酯薄膜上制备而成。
3:SmI2和SmCl3粉末样品以特定质量厚度支撑于聚酯薄膜上制备而成。
实验设备与材料清单:
3. 实验设备与材料清单:使用分辨率155 eV(5.9 keV处)、75 mCi的241Am放射源及聚酯薄膜的Si(Li)探测器系统。
4:9 keV处)、75 mCi的241Am放射源及聚酯薄膜的Si(Li)探测器系统。
实验流程与操作步骤:
4. 实验流程与操作步骤:利用241Am源产生的59.543 keV光子激发靶样品,通过Si(Li)探测器系统检测样品发射的X射线。
5:543 keV光子激发靶样品,通过Si(Li)探测器系统检测样品发射的X射线。
数据分析方法:
5. 数据分析方法:在相同实验条件下获取有无吸收体时的净计数,通过相同时间测量计算质量衰减系数。
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