研究目的
研究高光谱成像技术作为区分库尔勒香梨为落萼型或宿萼型的潜在方法。
研究成果
所开发的算法利用每个梨感兴趣区域内1190纳米与1199纳米相对强度的比值，在实际应用中具有可行性，能正确分类89.3%至94.0%的无萼片梨，且符合中国包装标准。
研究不足
该研究聚焦于特定品种的梨并采用特定成像系统，这可能限制研究结果对其他水果或成像系统的普适性。
1：实验设计与方法选择：
采用近红外高光谱成像技术区分离萼梨与宿萼梨?；诶嬖?190纳米和1199纳米处的相对强度比值，开发了多光谱区分算法。
2：样本选择与数据来源：
从超市共采购332个库尔勒香梨，其中164个为宿萼梨，168个为离萼梨。
3：实验设备与材料清单：
近红外高光谱成像系统由砷化铟镓相机、光谱仪、25毫米焦距物镜、计算机控制的单轴电动平台及一对石英卤素线光源组成。
4：实验流程与操作步骤：
将梨以每组六个排列在电动平台的黑色背景布料上，每个果实的果柄-萼部轴线水平放置。采集并分析高光谱图像。
5：数据分析方法：
利用梨感兴趣区域反射光谱进行判别分析。计算各i-j波段对的最佳区分阈值以实现梨类区分。
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