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利用马赫-曾德尔干涉仪测量光纤内折射率变化

DOI:10.1109/LPT.2018.2883913 期刊:IEEE Photonics Technology Letters 出版年份:2018 更新时间:2025-09-04 15:30:14
摘要: 我们首次报道了利用光纤马赫-曾德尔干涉仪测量超快激光辐照引起的纤芯折射率变化。该纤芯偏移干涉仪通过将一段轻微失配的标准单模光纤插针熔接在输入和输出光纤之间构建而成。当光纤干涉仪的纤芯折射率发生改变时,会改变纤芯光的相位。由于包层中传播的光(参考臂)相位保持不变,干涉仪的透射条纹图案会出现光谱偏移。利用该光谱偏移可量化标准单模光纤中的有效纤芯折射率变化。本工作报道了最高达0.01356、最低至0.000475的有效折射率变化测量值。
作者: Farid Ahmed,Vahid Ahsani,Seunghwan Jo,Colin Bradley,Ehsan Toyserkani,Martin B. G. Jun
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利用光纤马赫-曾德尔干涉仪测量超快激光辐照写入的纤芯折射率变化。

该研究展示了一种简单而有效的方法,利用光纤马赫-曾德尔干涉仪来量化光纤内有效折射率的变化。该方法在光纤光子器件的设计和制造中具有潜在应用价值。

该技术需要精确对准和控制激光照射以诱导可测量的折射率变化。该方法对外部扰动敏感,这些扰动可能影响干涉仪的性能。

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