研究目的
研究RTD设计参数对RTD I-V特性方差的影响，并确定对RTD I-V特性影响最显著的主导工艺误差。
研究成果
所开发的RTD电流-电压特性建模软件包可用于研究工艺误差对I-V特性变异的影响。研究表明，二极管RTS工艺误差对RTD批次I-V特性变异的贡献最大。模拟数据与实验结果相符。
研究不足
该研究聚焦于RTD I-V特性的初始区段，并未涵盖整个工作范围。仿真精度通过27只二极管的有限批次进行验证。
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[IEEE 2018年国际俄罗斯自动化会议（RusAutoCon）- 索契（2018.9.9-2018.9.16）] 2018年国际俄罗斯自动化会议（RusAutoCon）- 批量生产条件下研究共振隧穿二极管参数重现性的计算机统计实验应用
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[IEEE 2018年国际俄罗斯自动化会议（RusAutoCon）- 索契（2018.9.9-2018.9.16）] 2018年国际俄罗斯自动化会议（RusAutoCon）- 批量生产条件下研究共振隧穿二极管参数重现性的计算机统计实验应用
DOI：10.1109/RUSAUTOCON.2018.8501823
出版年份：2018
更新时间：2025-09-04 15:30:14
摘要：
研究对象是基于砷化镓/铝镓砷多层异质结构的共振隧穿二极管（RTD）。本文提交了一套基于共振隧穿二极管电流-电压特性高速建模算法并包含计算机统计实验?？榈娜砑?。该开发软件包用于研究二极管设计参数的技术误差对RTD I-V特性变化的影响。通过与实验数据对比验证了结果的准确性。
作者：
Kirill V. Cherkasov，Sergey A. Meshkov，Mstislav O. Makeev
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