研究目的
研究一种特定草药对某种疾病的治疗效果。
研究成果
与纯WO3、BiVO4及WO3/BiVO4电极相比,所设计的WO3/BiVO4/ZnO光阳极在不使用助催化剂和空穴清除剂的情况下,表现出显著增强的光电流密度(1.23 V vs. RHE时约2.96 mA cm-2)、更低的起始电位(约300 mV vs. RHE)、更高的IPCE值(380 nm处达72.8%)以及优异的稳定性(反应6小时后仅衰减约9%)。
研究不足
实验的技术和应用限制,以及潜在的优化领域。
1:实验设计与方法选择:
WO3/BiVO4/ZnO光阳极的制备主要包括三个典型步骤,即WO3纳米片阵列的水热生长、BiVO4薄膜的旋涂工艺以及通过原子层沉积(ALD)法沉积ZnO层。
2:样品选择与数据来源:
所有化学试剂均为分析纯,使用时未经进一步提纯。
3:实验设备与材料清单:
场发射扫描电子显微镜(FESEM,S-4800,日立,日本)、高分辨透射电子显微镜(HRTEM,JEM-2100F,日本电子,日本)、X射线粉末衍射仪(XRD,D8 Advance,布鲁克,德国)、X射线光电子能谱仪(XPS,赛默飞世尔科技ESCALAB 250光谱仪)、紫外-可见分光光度计(U-3900分光光度计,日立,日本)、接触角测量系统(FTA125,First Ten Angstroms公司,英国朴茨茅斯)。
4:实验步骤与操作流程:
通过水热法制备WO3纳米片阵列,随后采用旋涂工艺覆盖BiVO4以构建WO3/BiVO4 II型异质结。为进一步提升光电化学性能,通过低温原子层沉积(ALD)工艺在WO3/BiVO4复合纳米片阵列上包覆一层富含氧空位的薄钝化ZnO层。
5:数据分析方法:
光电化学性能测试采用Autolab PGSTAT302G工作站,使用典型的三电极体系进行。
独家科研数据包,助您复现前沿成果,加速创新突破
获取完整内容-
Field-emission scanning electron microscope
S-4800
Hitachi
Examining the microstructures of the electrodes
-
High-resolution transmission electron microscopy
JEM-2100F
JEOL
Examining the microstructures of the electrodes
-
X-ray powder diffraction
D8 Advance
Bruker
Characterizing the obtained products
-
X-ray photoelectron spectroscopy
ESCALAB 250
ThermoFisher Scientific
Analyzing the chemical states of the elements in the photoanode
-
Ultraviolet-visible spectrophotometer
U-3900
Hitachi
Conducting the optical property measurements
-
Contact-angle system
FTA125
First Ten Angstroms, Inc.
Measuring the contact angles
-
登录查看剩余4件设备及参数对照表
查看全部