研究目的
研究氧化镓(Ga2O3)在超高功率整流器和MOSFET器件中的应用潜力,重点关注其大带隙特性、可控掺杂能力以及大直径低成本衬底的可用性。
研究成果
氧化镓(Ga2O3)因其宽带隙和高击穿电压,在高功率电子器件应用中展现出潜力。然而其低热导率和难以实现p型掺杂的特性带来了重大挑战。要使氧化镓在碳化硅(SiC)和氮化镓(GaN)等成熟技术之外找到应用空间,必须持续提升材料质量、器件设计和工艺技术水平。军事领域的资金投入与应用可能对维持该技术发展起到关键作用。
研究不足
Ga2O3的低热导率以及缺乏p型掺杂是重大限制因素。这些问题制约了可实现器件结构的类型,并要求采用有效的热管理方案。此外,与SiC和GaN相比,该技术成熟度较低,在生长成熟度、成本及器件可靠性方面存在挑战。